ankara üniversitesi fen bilimleri enstitüsü doktora tezi frekans
Transkript
ankara üniversitesi fen bilimleri enstitüsü doktora tezi frekans
ANKARA ÜNİVERSİTESİ FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ DOKTORA TEZİ FREKANS DÜZGÜNLENMİŞ EMPEDANS FONKSİYONU İLE MANYETOTELLÜRİK VERİLERDE STATİK-KAYMA DÜZELTMESİ Cemal KAYA JEOFİZİK MÜHENDİSLİĞİ ANABİLİM DALI ANKARA 2002 Her hakkı saklıdır ÖZET Doktora Tezi FREKANS DÜZGÜNLENMİŞ EMPEDANS FONKSİYONU İLE MANYETOTELLÜRİK VERİLERDE STATİK – KAYMA DÜZELTMESİ Cemal KAYA Ankara Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Jeofizik Mühendisliği Anabilim Dalı Danışman: Prof. Dr. Ahmet Tuğrul BAŞOKUR Manyetotellürik (MT) yöntem Cagniard (1953) tarafından yeraltının iletkenlik değişimlerini kullanılarak yeriçinin araştırılaması için önerilmiştir. MT yöntemi sedimanter havzaların belirlenmesi, petrol ve jeotermal kaynakların araştırılması, maden yataklarının bulunması ve yeraltının derin yapısının araştırılmasında kullanılır. Statik-kayma, MT verilerinde görülen bir sorundur. Statik-kayma nedeniyle görünür özdirenç eğrisi düşey eksen boyunca aşağıya veya yukarıya doğru kayarken, faz ölçüleri değişmez. i Geçici elektromanyetik yöntem (TEM), MT verilerindeki statik-kayma etkisini düzeltmek için en çok kullanılan bir yöntemdir. TEM verileri yardımıyla iki türlü statik-kayma düzeltmesi yapılır. Birincisinde, TEM verisinin zamanları, MT frekanslarına dönüştürüldükten sonra, MT görünür özdirenç eğrileri dönüştürülmüş TEM eğrisine kaydırılır. İkinci türde ise TEM verisinin bir-boyutlu ters çözümü yapılır. Bulunan modelin birboyutlu MT düz çözümü hesaplanır. Ölçülen MT görünür özdirenç eğrileri, kuramsal MT eğrisine kaydırılır. TEM yöntemi kullanılarak yapılan statik-kayma düzeltmelerinde yeriçi birboyutlu düşünülmektedir. Bu düşünce yanlıştır. Arazi çalışmalarından manyetik alanın yatay bileşenlerinin birbirine eşit olmadığı bilinmektedir. Bu çalışmada, bir TEM ölçüsü kullanılarak iki görünür özdirenç eğrisi hesaplanabileceği gösterilmiştir. TEM ölçüsünde manyetik alanın üç bileşeni ölçülürse, düşey manyetik alan kullanılarak elektrik alan hesaplanabilir. Sonuç olarak elektrik alan ve yatay manyetik alan bileşenleri kullanılarak iki empedans veya iki görünür özdirenç hesaplanabilir. 2002 , 104 sayfa ANAHTAR KELİMELER : Manyetotellürik, Geçici elektromanyetik, statik-kayma, statik düzeltme. ii ABSTRACT Ph.D. Thesis STATIC – SHIFT CORRRECTION OF MAGNETOTELLURIC DATA BY THE FREQUENCY NORMALISED IMPEDANCE Cemal KAYA Ankara University Graduate School of Natural and Applied Science Department of Geophysical Engineering Supervisor : Prof. Dr. Ahmet Tuğrul Başokur The magnetotelluric (MT) method was proposed by Cagniard (1953), in order to delineate subsurface structure by the help of conductivity variation. MT method is employed to map sedimentary basin, to explore of geothermal areas, oil reservoir, mineral deposit and deep structure of the earth. Static-shift is a common problem for the MT sounding data. The measured apparent resistivity values shift up or down along the vertical axis, while the phases remain unaffected. It is widely accepted that static-shift occurs if there is a shallow small scale heterogeneous structures around the electrodes. iii Transient electromagnetic method (TEM) is one of the method for the correction of static-shift effect in the MT sounding data. The static-shift correction is applied in two ways. One of them is that TEM data windows are converted to MT frequencies. Then, MT curves are shifted towards pseudo MT data obtained via the frequency converted TEM data. Second one is that TEM curve is interpreted by using one-dimensional inversion. Then one-dimensional MT forward response is calculated from the layered earth model derived from the inversion of the TEM data. Observed MT curves are shifted towards the calculated one-dimensional MT data. In the static-shift correction methods, mentioned above, it is assumed that the earth is one-dimensional. Considering the realistic earth model. It will not be valid all the time. Because, the horizontal components of the magnetic fields measured in TEM method, do not equal to each other for all but the one-dimensional earth case. In this study, a new bi-directional apparent resistivities are defined for the TEM method. If three components of the magnetic field are observed, then radial component of electric field can be calculated by using vertical component of the magnetic field. Finally, two impedance or apparent resisitivities may be calculated by using ratio of electric field and horizontal components of magnetic fields. 2002, 104 pages Key Words : Magnetotelluric Method, Transient Electromagnetic Method, static-shift, static-correction iv TEŞEKKÜR Önce yüksek lisans ve doktora çalışmamı yöneten sayın hocam Prof. Dr. Ahmet Tuğrul Başokur’a teşekkürlerimi sunarım. Çalışmalarım sırasında yalnızca tez danışmanlığı değil, bilimsel çalışma yöntemleri ve hoca öğrenci ilişkileri konularında kendisinden çok şey öğrendim. Ankara Üniversitesi Jeofizik Bölümünde yüksek lisans çalışmalarına başladığımda yıllardır jeofizik işinde çalışmış tecrübeli sayılabilecek biriydim. Yüksek lisans ve doktora çalışmalarım sırasında ne kadar az bilgili olduğumu, bilgisiz tecrübenin aslında tecrübe bile olmadığını anladım. Bu dönemde jeofiziği bir daha öğrendim, yeniden öğrendim diyebilirim. Bu nedenle Ankara Üniversitesi Jeofizik bölümü tüm hocalarına, başta Prof. Dr. Turan Kayıran ve Doç. Dr. Abdullah Ateş olmak tüm bölüm personeline içten teşekkürlerimi sunuyorum. Jüri üyeliği ve tez danışmanlığı sırasındaki öneri ve katkılarından dolayı Prof.Dr. Zafer Akçığ ve Doç.Dr. Aydın Özsan sağolsunlar. Tez çalışmalarımı ve tüm jeofizik konularını tartıştığım Dr. Emin Ulugergerli ve Dr. Emin Candansayar katkı ve eleştirilerinde dolayı sağ olsunlar. Tez çalışmam sırasında bu iki dostumla saygı ve sevgiye dayalı, ölçülü ve dürüst çalışmalar ve tartışmalarda bulunduk. Sanırım birlikte çalışmalarımız devam edecek , giderek artacak ve daha güzel ürünler verecek. Bu çalışmam sırasında desteğini sürekli yanımda gördüğüm sevgili eşim Aynur, teşekkürlerin en büyüğüne layıktır. Cemal KAYA Ankara, Ekim 2002 v İÇİNDEKİLER ÖZET...................................................................................................... i ABSTRACT........................................................................................... İii ÖNSÖZ ve TEŞEKKÜR........................................................................ V SİMGELER DİZİNİ ............................................................................. Viii ŞEKİLLER DİZİNİ ............................................................................... İx ÇİZELGELER DİZİNİ......................................................................... 1.GİRİŞ..................................................................................... Xiv 1 2. MANYETOTELLÜRİK (MT) VE GEÇİCİ ELEKTROMANYETİK (TEM) YÖNTEMLER ................ 4 2.1. Manyetotellürik Yöntem .......................................................... 4 2.1.1. Temel bağıntılar ..................................................................... 4 2.1.2. TE ve TM modlarının derin ve sığ yapılara duyarlılığı ......... 11 2.1.2. TE ve TM modlarının üç boyutlu yapılara duyarlılığı ......... 14 2.1.3. TE ve TM modlarının statik-kaymaya duyarlılığı ................. 17 2.2. Geçici Elektromanyetik Yöntem ............................................. 19 2.2.1. Araştırma derinliği ................................................................. 22 2.2.2. Görünür özdirenç tanımı ........................................................ 24 2.3. Statik Kayma ........................................................................... 26 2.3.1. Statik kaymanın tanımı .......................................................... 26 2.3.2. MT sondaj verisinde galvanik etki ........................................ 34 2.3.3. Statik kaymayı etkileyen etmenler ....................................... 36 2.3.3.1. İletkenlik etkisi ................................................................... 36 2.3.3.2. Dipol boyu etkisi ................................................................ 39 vi 2.3.3.3 Elektrot dizilimi etkisi ......................................................... 44 2.4. Statik Kayma Düzeltmesi ......................................................... 49 2.4.1. Ortalama alma yöntemi (Invariant Parametreler) .................. 52 2.4.2. Eğri kaydırma ........................................................................ 54 2.4.3. İstatistik ortalama alma........................................................... 57 2.4.4. Uzaysal (uzaklık ortamı) süzgeçleme .................................... 58 2.4.5. Bozuşma tensörünü (distorsion tensor) hesaplama ............... 58 2.4.5.1. 1-B Yapı içinde küçük 3-B kütle bozulmaları .................... 60 2.4.5.2. 2-B yapı içinde küçük 3-B kütlelerin bozucu etkileri ........ 61 2.4.5.3. Lokal ve rejyonal anomalilerin birbirinden ayrılması ........ 62 2.4.6. Sayısal modelleme ................................................................ 63 2.4.7. Doğru akım özdirenç yöntemleri ........................................... 65 3. STATİK–KAYMA DÜZELTMESİ İÇİN DÖNDÜRÜLMÜŞ GEÇİCİ ELEKTROMANYETİK YÖNTEM ....................................................................................... 67 3.1. Homojen yarı-sonsuz ortam üzerinde düşey manyetik dipolun geçici elektromanyetik alanı..................................................... 67 3.1.1. Homojen ortam....................................................................... 74 3.2. İki tabakalı ortam....................................................................... 78 3.3. Arazi verisi uygulaması............................................................. 81 3.3.1. Yatay manyetik alan vektörlerinin döndürülmesi ................. 83 3.3.2. Yöntemin statik-kayma düzeltmesine uygulanması .............. 87 4. SONUÇ....................................................................................... 97 KAYNAKLAR....................................................................................... 99 ÖZGEÇMİŞ........................................................................................... vii SİMGELER DİZİNİ E Elektrik alan şiddeti (V/m) H Manyetik alan şiddeti (A/m) µ Ortamın manyetik geçirgenliği (H/m) µ0 Havanın manyetik geçirgenliği σ Öziletkenlik (S/m) ε Ortamın dielektrik sabiti ε0 Serbest havanın dielektrik sabiti Zxy, Zyx Empedans tensörü J Akım yoğunluğu Ep Birincil elektrik alan Es İkincil elektrik a σ0 Sonsuz bir ortam iletkenliğini σ1 Kütle iletkenliğini göstermektedir ω Açısal frekans ρ Yük yoğunluğudur δ Etkin derinlik (skin depth) µ Manyetik permeabilite ρxy, ρyx Görünür özdirenç Bz Düşey manyetik indüksiyon alanı ∇, ∇. Gradient ve diverjans operatörü viii ŞEKİLLER DİZİNİ Şekil 2.1.1. TE ve TM modları (a) TE Modu için E( 0, Ey, 0), H( Hx, 0, Hz). (b) TM Modu için E( Ex, 0, Ez ), H(0, Hy, 0) .......... 9 Şekil 2.1.2. Yatay tabakalı ortam içinde yüzeye yakın özdirenci yüksek sığ horst benzeri yapı içeren 2-B’lu model ........... 12 Şekil2.1.3.Şekil 2.1.2’de verilen modelin düz çözümü sonucu (TE modu). ............................................................................... 12 Şekil 2.1.4. Şekil 2.1.2’de verilen modelin düz çözümü (TM modu) . 12 Şekil 2.1.5. Yatay tabakalı ortam içinde düşük özdirençli derin antiklinal benzeri yapı içeren 2-B’lu model ...................... 13 Şekil 2.1.6. Şekil 2.1.5’de verilen modelin düz çözümü (TE modu).... 13 Şekil 2.1.7. Şekil 2.1.5’de verilen modelin düz çözümü (TM modu)... 13 Şekil 2.1.8. Yatay tabakalı ortamda birinci tabaka içinde prizma içeren 3-B’lu model (Berdichevsky ve diğ.,1998) ........... 15 Şekil 2.1.9. Şekil 2.1.8’de verilen 3-B’lu modelin ortasındaki O noktasındaki 1-B’lu, 2-B’lu ve 3-B’lu özdirenç eğrileri (Berdichevsky ve diğ.,1998).............................................. 16 Şekil 2.1.10. Düşük özdirençli birinci tabaka içindeki özdirençli değişik yapılar yüksek (Berdichevsky ve diğ.,1998)........................................................................... 17 Şekil 2.1.11. 2.1.10’da verilen modellerin O ve R noktalarında hesaplanan 1-B’lu, 2–B’lu ve 3-B’lu görünür özdirenç ve faz eğrileri (Berdichevsky ve diğ.,1998)............................ 19 Şekil 2.2.1. TEM yönteminde arazi yerleşimi...................................... 20 Şekil 2.2.2. TEM yönteminde alıcı ve verici dalga biçimi................... ix 21 Şekil 2.2.3. TEM yönteminde Eddy akımlarının akışı. a-erken zaman, b-geç zaman .......................................................... 23 Şekil 2.2.4. Homojen ortam üzerinde erken ve geç zamanlar için görünür özdi-rençler (Spies ve Eggers,1986).................. 25 Şekil 2.3.1. Elektrik ve manyetik alan genliğindeki değişimler (Utada ve Munekane, 2000) ....................................................... 26 Şekil 2.3.2. İndüksiyon etkisi (Wright,1988)........................................ 29 Şekil 2.3.3. Galvanik etki. J-Akım yoğunluğunu, Ep-birincil alan, Esikincil alanı, σ0 sonsuz bir ortam iletkenliğini, σ1 kütle iletkenliğini göstermektedir (Wright, 1988)...................... 31 Şekil 2.3.4. Yarı-sonsuz bir ortam içindeki iletken yarım küre........... 37 Şekil 2.3.5. Yatay tabakalanmış bir ortamda yüzeylenmiş 3-B iletken ince tabaka modeli (Pellerin ve Hohman,1990).............. 42 Şekil 2.3.6. Dipol boyuna göre statik-kaymada oluşan değişimler (Pellerin ve Hohman,1990)............................................. 43 Şekil 2.3.7. Yüzeylenmiş iki adet küçük iletken içeren yatay tabakalı 2-B model (Jones,1988)................................................. 44 Şekil 2.3.8. Nokta elektrik alan hesaplanması ile dipol elektrik alan hesaplanması arasındaki fark. Dipol uzunluğu 25 m alınarak profil boyunca yapılan sondajlardan elde edilen (a) 0.015 s için, (b) 1 s için, (c) 100 s için görünür özdirenç ve faz değişimi. Koyu çizgiler dipol kullanılarak ölçümü, soluk çizgiler ise nokta elektrik alan hesaplamalarını göstermektedir............................... 45 Şekil 2.3.9. Arazi çalışmalarında ve model hesaplamalarında kullanılan elektrik alan ölçü dizilimleri.......................... 46 x Şekil 3.1. Değişik özdirençli homojen ortam için Eo ve Hr alanlarının zamana göre değişimi. (a) Manyetik alanın yatay bileşenindeki değişimler, (b) Elektrik alandaki değişimler.............................................................................. 75 Şekil 3.2. Değişik özdirençli homojen ortam için Eo/ Hr (Zx) empedansının ve Rhox görünür özdirençlerin zamana göre değişimi. (a) (Zx) empedansındaki değişimler, (b) Rhox görünür özdirençleri............................................................. 76 Şekil 3.3. Değişik özdirençli homojen ortam için dBz/dt empedansının ve Rhoz görünür özdirençlerin zamana göre değişimi. (a) dBz/dt değişimler, (b) Rhoz görünür özdirençleri........................................................................... 77 Şekil 3.4. İki tabakalı ortam için Eo/ Hr (Zx) empedansından elde edilen Rhox görünür özdirençlerin zamana göre değişimi............................................................................. 79 Şekil 3.5. İki tabakalı ortam için dBz/dt empedansından elde edilen Rhoz görünür özdirençlerin zamana göre değişimi............................................................................. 79 Şekil 3.6. İki tabakalı ortam için Eo/ Hr (Zx) empedansından elde edilen Rhox görünür özdirençlerin zamana göre değişimi............................................................................. 80 Şekil 3.7. İki tabakalı ortam için dBz/dt empedansından elde edilen Rhoz görünür özdirençlerin zamana göre değişimi................................................................................ 80 xii Şekil 3.9. Arazi verisi kullanılarak elde edilen üç tür görünür özdirenç kesitleri. Üstte düşey manyetik indüksiyon alanı (dBz/dt), ortada Zx (Eo/Hx) kullanılarak, altta Zy (Eo/Hy) kullanılarak yapılmıştır......................................... 82 Şekil 3.10 Arazi verisinden oluşturulan manyetik indüksiyon yapma kesitleri (picoTesla/ amper). (a) x- bileşeni (Bx), (b) ybileşeni (By), (c) z- bileşeni (Bz)....................................... 83 Şekil 3.11. H vektörünün x-y düzleminde döndürülmesi.................... 84 Şekil 3.12. Arazi verisinden oluşturulan döndürme sonrası manyetik indüksiyon yapma kesitleri (picoTesla/ amper). (a) x- bileşeni Bx),(b) y- bileşeni (By), (c) dönme açısı (derece).. 85 Şekil 3.13. Arazi verisinden elde edilen görünür özdirenç eğrileri. rsx: (Eo/Hx) kullanılarak hesaplanan, rsy: (Eo/Hy) kullanılarak hesaplanan, rsz: (dBz/dt) kullanılarak hesaplanan, rrx: (Eo/Hxmax) kullanılarak hesaplanan, rry: (Eo/Hymin) kullanılarak hesaplanan.................................... 86 Şekil 3.14. Arazi verisinden elde edilen görünür özdirenç eğrileri. rsx: (Eo/Hx) kullanılarak hesaplanan, rsy: (Eo/Hy) kullanılarak hesaplanan, rsz: (dBz/dt) kullanılarak hesaplanan, rrx: (Eo/Hxmax) kullanılarak hesaplanan, rry: (Eo/Hymin) kullanılarak hesaplanan.................................... 87 Şekil 3.15. Sedimanter bir alanda ölçülen MT ve TEM görünür özdirenç eğrileri. Kırmızı xy, mavi yx yönündeki MT, yeşil ise TEM görünür özdirenç eğrisi............................... 88 xiii Şekil 3.16. Şekil 3.15 verilen MT ve TEM görünür özdirenç eğrilerini statik-kayma yapıldıktan sonraki durumu............ 89 Şekil 3.17 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen MT ve TEM görünür özdirenç eğrileri.................................................... 91 Şekil 3.18 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen y-yönündeki manyetik alan (By).......................................................... 92 Şekil 3.19 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen x-yönündeki manyetik alan (Bx)............................................................... 92 Şekil 3.20 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen z-yönündeki manyetik alanın zamana göre türevi(dBz/dt).................. 93 Şekil 3.21 Jeolojisi karmaşık bir alanda dBz/dt kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrisi................................ 93 Şekil 3.22 Düşey manyetik (mavi-Rz) ve yatay manyetik alanlar (Rx ve Ry) kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrileri............................................................................. 94 Şekil 3.23 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen MT ve TEM eğrileri. TemRx: x- bileşeni, TemRy: y- bileşeni, TemRz: z- bileşeni kullanılarak hesaplanan TEM, MTxy ise ve MTyx MT görünür özdirenç eğrileri............................................................................. 95 xiv ÇİZELGELER DİZİNİ Çizelge 1 TE ve TM modları için Maxwell denklemleri............. xv 8 1. GİRİŞ Statik-kayma Manyetotellürik (MT) verilerinin değerlendirilmesi ve yorumlanması sırasında veri üzerinden kaldırılması gereken bir etkidir. Statik kayma kısaca görünür özdirenç eğrisinin düşey eksen boyunca aşağı veya yukarı doğru kayması olarak tanımlanabilir. Statik kaymanın nedenleri, indüktif ve sınır yük etkisi (boundary charge effect) olarak tanımlanabilir. İndüktif etki, manyetik alanın zamana göre değişiminin kütlenin iletken veya yalıtkan olmasına bağlı ikincil bir alan yaratmasıdır. İndüktif etki Faraday yasası ile açıklanır. İletken kütlenin hacmi, ortamın hacminden çok küçük olduğunda ihmal edilebilir. Sınır yük etkisi ise iletken kütle sınırlarında elektrik alan fazlalığı olarak görülür. MT ölçülerine doğru akım etkisi yapar. Kütle sınırlarında akım kanallanması (current channeling) veya akım toplanması (current gathering) olarak adlandırılır. Statik kayma etkisi jeolojisi yalın sedimanter arazilerde az görülürken, jeolojisi karmaşık volkanik arazilerde çok etkilidir. Statik kayma etkisi ile üç-boyutlu (3-B) yüzeye yakın küçük kütleli yapıların iki-boyutlu (2-B) veya bir-boyutlu (1-B) değerlendirilmesinde karşılaşılır. 2-B’lu yüzeye yakın küçük kütleler de 1-B’lu değerlendirme sırasında statik kayma etkisi gösterirler. 1 Statik kayma sorununu gidermek amacıyla bir çok araştırmacı tarafından çalışmalar yapılmıştır. Bunlar; değişmez (invariant) ve determinat empedans tanımları (Berdichevky ve Dimitriev, 1976), eğri kaydırma yöntemi (Andrieux ve Wightman, 1984; Sternber ve diğ, 1984, 1985; Pellerin ve Hohman, 1988), istatiksel ortalama alma (Berdichevky ve diğ., 1980; Jones, 1988), uzaklık ortamı süzgeçleme yöntemi (Berdichevky ve diğ., 1989; Bostick, 1986; Torres-Verdin ve Bostick, 1989), bozulmuş tensörü bulma (Schmucker,1970; Larsen, 1977; Bahr, 1977; Groom ve Bailey, 1989) sayısal modelleme (deGroot-Hedlin, 1991, 1995), doğru akım özdirenç (Romo ve diğ., 1977; ve Spitzer 2001) yöntemleridir. Bu çalışmada ilerleyen bölümlerde EM temel bağıntılar tanıtıldıktan sonra MT yöntemi ile statik kayma ilişkisi işlenecektir (Bölüm 2.1). Daha sonra statik kayma düzeltmesi için kullanılan TEM yöntemi ana hatları ile anlatılacaktır (Bölüm 2.2). Bölüm 2.3 de ise statik kaymanın nedenlerinden sonra kaymayı etkileyen faktörler anlatılacaktır. Bölüm 2.4 yayınlarda bu güne kadar uygulanan statik kayma düzeltme yöntemlerini içermektedir. Bölüm 3 de ise TEM yönteminin uygulanmasına değişik bir yolla yaklaşılacaktır. Bilindiği gibi TEM yönteminde manyetik alanın düşey bileşeninin zamana göre değişimi ölçülür. Buradan görünür özdirenç hesaplanarak yer altı hakkında bilgi elde edilir. Manyetik alanın düşey bileşeni yanında yatay bileşenlerini de ölçmek olanaklıdır. Son yıllarda alet üreticisi firmalar düşey bileşen yanında yatay bileşenleri de aynı anda ölçebilen ekipmanlar geliştirmişlerdir. Düşey manyetik indüksiyonun zamana göre türevi ve alıcı-verici arasındaki uzaklık kullanılarak elektrik 2 alanın hesaplanması ile elektrik ve yatay manyetik alanları kullanarak iki yönde iki farklı görünür özdirenç hesaplanabileceği gösterilecektir. Birbirine dik yatay manyetik alan bileşenleri dik koordinat sisteminde döndürülerek biri büyültülürken, diğeri küçültülebilir. Yatay manyetik alan vektörlerinin bu durumunda hesaplanan görünür özdirenç eğrileri ile jeolojik doğrultu arasında ilişkilendirilebilir. 3 2. MANYETOTELLÜRİK (MT) VE GEÇİCİ ELEKTROMANYETİK (TEM) YÖNTEMLER 2.1. Manyetotellürik Yöntem 2.1.1. Temel bağıntılar Elektromanyetik (EM) dalganın davranışı ve yayılımı Maxwell denklemleri ile açıklanır. Maxwell denklemleri birbirinden bağımsız olarak geliştirilen dört denklemin biraraya getirilmesi ile oluşmuştur. Jeofizik uygulamalarda EM dalgaların yeriçinde yayılımı ilkeleri kullanılarak, yer altı yapısı ve yeri oluşturan kayaçların fiziksel özelliklerini bulmak olanaklıdır. E, elektrik alan şiddeti (V/m), H, manyetik alan şiddeti (A/m), µ , ortamın manyetik geçirgenliği (H/m) ve σ , öziletkenlik (S/m) olmak üzere, Maxwell denklemleri, ∇xE + iωµH = 0 (FaradayYasası) (2.1) ∇xH − (σ + iεω ) E = 0 (AmpereYasası) (2.2) ∇⋅E = 0 (2.3) ∇⋅H = 0 (2.4) şeklinde tanımlanır. Yukarıda tanımlanan σ , ε ve µ terimleri frekansa bağlı olarak değişmezler. Freakansın değişimi ile araştırma derinliği değişir. Değişken olma özelliklerinden yararlanarak jeofizik yöntemlerde parametre 4 olarak kullanılırlar. Yeri oluşturan kayaçların öziletkenlikleri 10-4 S/m’den küçük ve dielektrik permitiviteleri 10-11 F/m civarında olduğundan, 100 kHz’den küçük frekanslarda yerdeğiştirme akımı (µ ) yerine εω serbest σ >> εω olduğunda (quasi-statik limit), ihmal edilebilir. Ortamın manyetik geçirgenliği havanın manyetik (µ 0 ) geçirgenliği ( µ = µ 0 = 4π x 10-7 H/m) ve ortamın dielektrik sabiti ( ε ) yerine serbest havanın dielektrik sabiti ( ε 0 ) ( ε 0 = 8.87 x 10-12 F/m ) kullanılabilir. Quasi-statik limit şartları kullanıldığında, (2-1), (2-2), (2-3) ve(2-4) eşitlikleri, ∇xE = −iωµH (2.1a) ∇xH = σE (2.2b) ∇⋅E = 0 (2.3c) ∇⋅H = 0 (2.4d) şekline gelir. (2.1) ve (2.2) ile verilen Faraday ve Ampere yasaları değişken bir manyetik alanın değişken bir elektrik alan, değişken bir elektrik alanın ise değişken bir manyetik alan oluşturacağını göstermektedir. Bu olay birbirine peşi sıra devam eder gider. Birbirini izleyen elektrik ve manyetik alanlar aynı yerde oluşmadığından EM dalga ilerleyerek iletken ortam içinde yayılır. (2.1) eşitliğinin her iki tarafının rotasyoneli alınırsa, 5 ∇x∇xE + iωµ∇xH = 0 (2.5) bulunur. Burada ∇xH yerine (2.2) konursa, ∇x∇xE + iωµ (σ + iωε ) E = 0 (2.6) olur. Cebirsel işlemler yapılır ve vektörlerin ∇x∇xa = ∇∇ ⋅ a − ∇ 2 a özelliğinden yararlanılır ve ∇ ⋅ E = 0 (2.3) bağıntısı kullanılırsa, ∇ 2 E + (εµω 2 − iµσω ) E = 0 (2.7) bulunur. Benzer biçimde (2.2) bağıntısında verilen Faraday yasası kullanılarak, ∇ 2 H + (εµω 2 − iµσω ) H = 0 (2.8) elektromanyetik dalga denklemi çifti bulunur. k 2 = εµω 2 − iµσω biçiminde tanımlanırsa, (2.7) ve (2.8) denklemleri kısaca, ∇2E + k 2E = 0 (2.9a) ∇2H + k 2H = 0 (2.9b) şeklinde yazılarak, elektromanyetik dalga denklemi çifti bulunur. 6 Zaman ortamı elektromanyetik dalga denklemleri, ∂ 2e ∂e ∇ e − µε 2 − µσ =0 ∂t ∂t (2.10a) ∂2h ∂h ∇ h − µε 2 − µσ =0 ∂t ∂t (2.10b) 2 2 biçiminde yazılır. Quasi-statik şartlar gözönüne alınarak yerdeğiştirme akımları ihmal edilirse, ∇ 2 h − µσ ∂h =0 ∂t (2.11a) ∇ 2 e − µσ ∂e =0 ∂t (2.11b) biçiminde yalın olarak yazılabilir. Zaman ortamı EM dalga denklem çifti, dik koordinatlarda açık olarak yazılırsa, ∂ 2e ∂ 2e ∂ 2e ∂e + + − µσ =0 ∂x 2 ∂y 2 ∂z 2 ∂t (2.12a) ∂h ∂ 2h ∂2h ∂ 2h + + − µσ =0 ∂t ∂x 2 ∂y 2 ∂z 2 (2.12b) biçiminde tanımlanır. 7 Eğer ortam 1-B’lu ise, iletkenlik yalnızca z-yönünde değişir ve ∂2/∂x2 ve ∂2/∂y2 terimleri sıfıra eşit olur. EM dalga çifti ise, ∂ 2e ∂e − µσ =0 ∂z 2 ∂t (2.13a) ∂ 2h ∂h − µσ =0 2 ∂z ∂t (2.13b) biçimini alır. 1-B’lu ortam için EM dalga çifti frekans ortamında ise, ∂2H − iωµσH = 0 ∂z 2 (2.14a) ∂2E − iµωσE = 0 ∂z 2 (2.14b) şeklini alır. İki-boyutlu ortamlarda iletkenlik z ve x yönünde değişirken y- yönünde değişmez. (2.15) ve (2.16) eşitliklerinde yalnızca ∂2/∂y2 ifadeleri sıfıra eşit olur ve ∂ 2e ∂ 2e ∂e + − µσ =0 ∂x 2 ∂z 2 ∂t (2.15a) ∂ 2h ∂2h ∂h + 2 − µσ =0 2 ∂z ∂t ∂x (2.15b) biçimini alır. 8 2-B durum için elektrik alanın iletkenlik doğrultusuna (jeolojik doğrultuya) paralel (TE) ve manyetik alanın jeolojik doğrultuya paralel (TM) olduğu iki modda çözüm yapılabilir. TE modu için manyetik alanın y bileşeni ile elektrik alanın x ve z bileşeni, TM modu için ise manyetik alanın x ve z bileşeni, elektrik alanın ise y bileşeni sıfır kabul edilir. Şekil 2.1.1. TE ve TM modları (a)TE Modu için E( 0, Ey, 0), H( Hx, 0, Hz). (b) TM Modu için E( Ex, 0, Ez ), H(0, Hy, 0). 2-B’lu ortam için (2.1) – (2.4) arasında tanımlanan Maxwell denklemleri TE ve TM modları için Çizelge-1’deki gibi yeniden yazılabilir. 9 MT yönteminde 3-boyutlu veri toplamak zordur. 3-boyutlu veri toplansa bile, 3-boyutlu değerlendirme yazılımları çok fazla bilgisayar zamanı kullanmaktadır. Bu nedenlerle MT verileri çoğunlukla bir profil boyunca toplanmaktadır. Değerlendirme işlemleri 2-B yazılımlar kullanılarak yapılmaktadır. Çizelge 1 TE ve TM modları için Maxwell denklemleri Maxwell TE Modu Denklem TM Modu No ∂H x ∂H z − = σE y ∂z ∂x − ∂H y ∂z ∂H y 1 ∂x − 2 − ∂E y ∂x ∂E y ∂z = σE x = σE z = −iωµH z ∂E x ∂E z = −iωµH y − ∂z ∂x = −iωµH x ∇⋅Hy = 0 3 ∂H x ∂H z + =0 ∂x ∂z 4 ∇ ⋅ Ey = 0 ∂ (σE x ) ∂ (σE z ) + =0 ∂x ∂z 2-B’lu çözümler yukarıdaki bölümlerde anlatıldığı gibi elektrik alanın jeolojik doğrultuya paralel olduğu TE 10 veya manyetik alanın jeolojik doğrultuya paralel olduğu TM modlarında yapılabilmektedir. 2-B ‘lu değerlendirmelerde TE ve TM modlarının ne gibi etkileri olduğu ve birbirlerine göre üstün ve zayıf yönleri tartışılmaktadır. TE ve TM modlarını için aşağıdaki 3 sorunun yanıtı sıkça tartışılır: 1- Hangi mod (TE veya TM ) derin yapılardan , hangi mod sığ yapılardan daha çok etkilenir? 2- 3-boyutlu jeolojik kütlelerden hangi mod daha çok etkilenir? 3- TE ve TM modlarından hangisi statik kaymadan daha çok etkilenir? Bu sorulardan biri veya birkaçı ele alınarak Wannamaker ve diğ.(1989) ve Berdichevky ve diğ.(1998) tarafından incelenmiştir. İzleyen bölümlerde bu üç sorunun yanıtı Berdichevky ve diğ. nin(1998) anlatış biçimine göre sunulacaktır. 2.1.2. TE ve TM modlarının derin ve sığ yapılara duyarlılığı TE ve TM modlarının hangisinin derin yapılardan hangisinin sığ yapılardan etkilendiğini anlamak için iki tane yer altı modeli ele alınsın. Şekil 2.1.2’de yüzeye yakın özdirenci yüksek horst benzeri bir kütle içeren yatay tabakalı bir yapı düşünülsün. Bu model üzerinde 0.1-10000 sn arasında hesaplanan MT düz çözüm sonuçları Şekil 2.1.3 ve 2.1.4’de görülmektedir. Şekillerden de anlaşılacağı gibi horst benzeri yapının belirtisi TM modunda kolayca görülebildiği halde TE modu hesaplamasında bu etkiye ayırt edilememektedir. Bu nedenle yüzeye yakın yapılardan TM modu daha çok etkilenir. 11 1 Km. 1 0 Oh m. m 0.7 Km. 19 Km. 10 00 0 Ohm. m 1 Km. 10 0 K m 1 000 Oh m. m 1 0 Oh m. m Şekil 2.1.2. Yatay tabakalı ortam içinde yüzeye yakın özdirenci yüksek sığ horst benzeri yapı içeren 2-B’lu model. Şekil 2.1.3. Şekil 2.1.2’de verilen modelin düz çözümü (TE modu). Şekil 2.1.4. Şekil 2.1.2’de verilen modelin düz çözümü (TM modu). 12 1 Km. 50 Km 10 Oh m.m 146 Km. 145 Km 100000 Oh m.m 5 Oh m.m Şekil 2.1.5. Yatay tabakalı ortam içinde düşük özdirençli derin antiklinal benzeri yapı içeren 2-B’lu model. Şekil 2.1.6. Şekil 2.1.5’de verilen modelin düz çözümü (TM modu). Şekil 2.1.7. Şekil 2.1.5’de verilen modelin düz çözümü (TM modu). 13 Şekil 2.1.5.’de görülen derin horst yapının etkisi 0.1-10000 sn arasında hesaplanmıştır. Hesaplama sonuçları Şekil 2.1.6 ve 2.1.7’de görülmektedir. Şekillerden de kolayca anlaşılacağı gibi derin horst yapısının etkisi TE modunda kolayca görülebileceği gibi, TM modunda etkisi görülmez. Bu sonuçlardan, TE modunun derin yapılara karşı daha duyarlı olduğu söylenebilir. 2.1.3. TE ve TM modlarının üç-boyutlu yapılara duyarlılığı MT yönteminde TE ve TM modlarının 3-boyutlu kütleler üzerindeki etkisini araştırmak amacıyla Şekil 2.1.8’de verilen yatay tabakalı ortamda birinci tabaka içine gömülü bir dikdörtgenler prizması içeren bir model düşünülsün. Önce prizmanın özdirencinin birinci tabakanın özdirencine göre çok düşük olduğu durumu ele alalım. Prizmanın özdirenci 2 ohm-m alınırsa, O noktasında prizmanın boyu 35 km, eni 15 km alınarak 3-B’lu, boyu sonsuz alınarak 2-B’lu çözümler yapılabilir. Ayrıca eni ve boyu sonsuz alınarak 1-B’lu çözümler yapılabilir. Üç değişik boyutluluk durumu için yapılan çözümler şekil 2.1.9’da görülmektedir. Şekilden de görüldüğü gibi 3-B’lu çözümlerle 1-B’lu çözüm birbirinden çok farklıdır. 2-B’lu çözümde ise TE modu ile 1-B’lu çözüm birbirine çok benzemektedir. 14 Şekil 2.1.8. Yatay tabakalı ortamda birinci tabaka içinde prizma içeren 3-B’lu model (Berdichevsky ve diğ.,1998). 2.1.8’de verilen modelde prizmanın özdirencini 2 Ω.m’den 40 000 Ω.m’ye değiştirelim. Modelin yeni durumuna göre prizma merkezinde O noktasında hesaplanan 1-B’lu, 2-B’lu ve 3-B’lu model hesaplamaları şekil-2.1.10’da görülmektedir. 2-B model ile 15 Şekil 2.1.9. Şekil 2.1.8’de verilen 3-B’lu modelin ortasındaki O noktasındaki 1-B’lu, 2-B’lu ve 3-B’lu özdirenç eğrileri (Berdichevsky ve diğ.,1998). 3-B’lu model eğrilerinin birbirine tam olarak uyuştuğu görülmektedir. 2B’lu TE modu, 3-B’lu L ve 1-B’lu modellerde birbirine çok benzemektedir. Sonuç olarak, 3-B’lu kütle iletken ise kütlenin altından ve üstünden akış etkili olacağından, TM mod daha az etkilenir. 3-B’lu kütle dirençli ise kütlenin yanlarından akış etkili olacağından TE mod daha az etkilenir. 16 2.1.4. TE ve TM modllarının statik-kaymaya duyarlılığı Statik-kaymaya en üstteki tabakanın içinde yer alan küçük boyutlu kütlelerin neden olduğu bilinmektedir. Özdirenç eğrisi, etkin derinliğin tabaka kalınlığından büyük olduğu frekanslarda yukarı doğru kayarken faz eğrisinde bir değişiklik olmaz. Statik-kaymanın başladığı frekans, kaymaya neden olan kütlenin boyutlarına ve bulunduğu konuma göre değişir. Şekil-2.1.10’da düşük özdirençli birinci tabaka içinde değişik yapılarda yüksek özdirençli modeller görülmektedir. Bu modellerde, modelin ortasındaki O noktasındaki 2-B’lu eğriler (ρa-TE, ρa-TM, Φa-TE, Φa-TM) ve O-R noktalarında 1-B’lu ρa, Φ değerleri hesaplanarak aynı grafik üzerinde gösterilmiştir. Şekil 2.1.10. Düşük özdirençli birinci tabaka içindeki yüksek özdirençli değişik yapılar (Berdichevsky ve diğ.,1998). 17 Model E’de birinci tabaka içinde yüzeylenmiş yüksek özdirençli kütle görülmektedir. Bu model için hesaplanan 1-B’lu ve 2-B’lu eğriler karşılaştırıldığında T>Ts olduğunda TM modu eğrideki alçalmalar ve yükselmeler 1-B’lu eğrilere biçim olarak benzemektedir. Fakat yukarıya doğru kaymıştır. Bu tip statik-kaymalara özdirenç etken (ρ effect) kaymalar olarak tanımlanır. Özdirenç etkili kayma ρa-TE, Φa-TE, Φa-TM eğriler üzerinde etkili değildir. T<Ts durumunda ise ρa-TM, ρa –O ve ρa – R eğrileri değişik görünümdedirler. F ve G modellerinde değişik yüksek özdirençli yapıların düşük özdirençli birinci tabaka içindeki horst benzeri yapılarını temsil etmektedir. Bu modellerin eğrilerinde yükselen bölümlerinde TM mod özdirenç eğrileri ile O noktasındaki 1-B’lu model eğrileri ile çakışmaktadır. Düşen kısımlarında ise 2-B’lu model eğrilerinin 1-B model eğrilerinden log(Sh / Si ) oranında kaydığı görülmektedir. Burada, Sh horst yapısının özdirenci, Si ise birinci tabakanın özdirencidir. Bu tür statik-kaymalara S tipi kayma denir. Yukarıda anlatılan S ve ρ tipi kaymaların her ikisinde de etki aynı özelliktedir. Yalnız bu etkilerin frekans aralığı farklıdır. 2-B’lu modelleme örnekleri sonucunda görülebileceği gibi S ve ρ tipi statikkaymalardan TM modu daha çok etkilenir. 18 Şekil 2.1.11. 2.1.10’da verilen modellerin O ve R noktalarında hesaplanan 1-B’lu ve 2–B’lu görünür özdirenç ve faz eğrileri (Berdichevsky ve diğ.,1998). 2.2. Geçici Elektromanyetik Yöntem Geçici elektromanyetik yöntemde (Transient Electromagnetic Method TEM) ölçüler zaman ortamında yapıldığından zaman ortamı elektromanyetik yöntem (Time Domanin Electromagnetic Methods – TDEM) olarak ta adlandırılır. 19 Şekil 2.2.1. TEM yönteminde arazi yerleşimi. TEM yönteminde ölçü düzeni şekil 2.2.1’de görülmektedir. Dışta çoğunlukla tek kablodan oluşan bir verici halka vardır. Ortada ise çok sarımlı alıcı bobin bulunur. Alıcı bobin alet üreticisi firma tarafından sağlanır. Boyutu ve sarım sayısı sabittir. Verici halkanın boyu ve sarım sayısı isteğe ve araştırma amacına bağlı olarak değiştirilebilir. Eğer sığ yapılar araştırılmak isteniyorsa verici halka boyu birkaç metre, derin yapılar araştırılmak isteniyorsa birkaç yüz metre olur. TEM yönteminde, vericiden kare dalga biçimli akım uygulanarak birincil manyetik alan yaratılır. Akım kısa bir süre içinde kesilince, birincil manyetik alanın oluşturduğu ikincil alanlar ölçülür (Şekil 2.2.2). 20 Şekil 2.2.2. TEM yönteminde alıcı ve verici dalga biçimi. Alıcı tarafından ölçülen voltaj, akım kesildikten sonra yapıldığından çok küçüktür. Ölçüm sırasında sönüm eğrisinin tümünün okunması yerine seçilen bazı zaman aralıklarında (kapılarda) kayıt yapılır. İlk kapının küçük olması sığ derinliklerin araştırılabileceğini gösterir. Son kapının geç zaman aralığında olması ise derin yapıların araştırılması için uygundur. Alıcı bobin tarafından belli bir zaman aralığında ölçülen V voltajı, manyetik indüksiyon alanının zamana göre türevine, ∂B V = AR ∂t (2.17) 21 bağıntısıyla dönüştürülür. Burada V, alıcıdan okunan voltaj (volt), AR ise alıcı bobinin etkin alanıdır (m2 ) ve sarım sayısı ile bobin alanının çarpımına eşittir. 2.2.1. Araştırma derinliği TEM yöntemi ile yeraltına indüklenen Eddy akımları zamana bağlı olarak derinlere ve yanlara doğru yayılırlar. Yayınım sırasında zaman arttıkça akım şiddeti azalırken, dalganın yarıçapı büyümektedir (şekil 2.2.3). Bu yayınım zamana ve ortamın özelliğine bağlıdır ve hızı, v= 1 2σµ 0 t bağıntısı ile tanımlanır. Belli bir zamanda akım yoğunluğunun en büyük olduğu derinlik, δ TEM = 2t (2.18) σµ 0 bağıntısıyla hesaplanabilir. Bu eşitlikten görüldüğü gibi araştırma derinliği iletken ortamlarda küçük, yalıtkan ortamlarda ise büyüktür. En küçük araştırma derinliği ilk örnekleme zamanına bağlıdır. Araştırma derinliğini artırmak için son örnekleme zamanını büyütmek gereklidir. 22 TEM yönteminde zamana göre azalan manyetik alan ölçüldüğünde, zaman uzadıkça sinyal küçülür ve gürültüyle karışır. Araştırma derinliğini ve sinyali yükseltmek için değişik yollar vardır. Bunlar, • Ölçü yığması (stack) yapılarak sinyal gürültü oranı artırılır, • Yükseltici ön devrelerin kazançları (gain) artırılır, • Verciden uygulanan akım artırılır, • Verici halkanın boyu artırılır. Şekil 2.2.3 TEM yönteminde Eddy akımlarının akışı. a-erken zaman, b-geç zaman. 23 2.2.2. Görünür Özdirenç Tanımı TEM yönteminde kullanılan bütün zamanlar için tek bir görünür özdirenci analitik yolla hesaplamak imkansızdır. Bundan dolayı, erken zaman (early time) ve geç zaman (late time) olarak tanımlanan iki dilimde asimptotik bağıntılar kullanılarak iki tür görünür özdirenç eğrisi hesaplanır. Homojen ortam için verici halka içindeki düşey manyetik alan, I hz = 2 3 θ a θ 2 a 3 3θa −θ a − + ( θ ) erf a e 2 4 2 π 2 2 olarak tanımlanır (Hohman ve Ward, 1986). Burada (2.19) θ = ( µ 0σ / 4t )1 / 2 , erf hata fonksiyonu, a, verici halka yarıçapıdır. Düşey manyetik alan için erken ve geç zaman asimptotik bağıntıları, hze = hzl = I 6t 1 − 2a µσa 2 (2.20) Iσ 3 / 2 µ 3 / 2 a 2 30 π t (2.21) 3/ 2 olarak tanımlanır. Görünür özdirenci hesaplamak amacıyla Raiche(1983) ve Raab ve Frischknecht(1983)’ün seriye açılım veya yineleme teknikleri kullanılarak, 24 ρ = e a ρ = l a µ a3 I − hz 3It 2a (2.22) I 2/3µ a4/3 (2.23) 30 2 / 3 π 1 / 3 t hz2 / 3 biçiminde bulunur (Spies ve Egger,1986). Şekil 2.2.4.’te homojen ortam için erken ve geç zamanlarda görünür özdirenç asimptotik eğrileri görülmektedir. Şekil 2.2.4. Homojen ortam üzerinde erken ve geç zamanlar için görünür özdirençler (Spies ve Eggers,1986). 25 2.3. Statik Kayma 2.3.1. Statik kaymanın tanımı Manyetotelürik (MT) yöntemde, doğal elektromanyetik alanın vektör bileşenleri ölçülür. E ve H elektrik ve manyetik alanın vektör bileşenleri olmak üzere, empedans, Z=E/H olarak tanımlanır. Z empedans tensörünün büyüklüğü, yerin 3-boyutlu özdirenç yapısı tarafından belirlenir. Şekil-2.3.1.Elektrik ve manyetik alan genliğindeki değişimler (Utada ve Munekane, 2000) 26 Manyetik alan, güneşten gelen mikropülsasyonlardan ve yıldırım şimşek gibi atmosferik olaylar nedeni ile oluşur. Manyetik alan hızlı değişimler göstermez ve yer içinde özdirenç değişimlerine elektrik alana kıyasla daha az duyarlıdır. Elektrik alan ise yer içinin yapısına ve özdirencine bağlıdır ve hızlı değişir (Şekil 2.3.1). Bu durumu daha iyi anlamak için homojen sonsuz bir ortam içinde sınırlandırılmış 3-B kütleden r kadar uzaklıkta oluşan elektrik ve manyetik alan ele alınabilir. E(r) elektrik alanı, bir integral denklemi ile E(r) = E 0 (r) − iωµ 0 ∑ ∫ dV' g(r, r' )δσ j (r' )E(r' ) j Vj [ + ∇(1/σ 0 )∇.∑ ∫ dV' g(r, r' )δσ j (r' )E(r' ) j Vj ] (2.3.1) biçiminde yazılabilir (Hohmann,1975; Chave ve Smith,1994). Burada, Vj hacim içinde dağılan kütleleri, µ0 manyetik permeabiliteyi tanımlar. σj, heterojen iletkenlik dağılımı ve σ0 , uniform (background) iletkenlik olmak üzere, δσ j (r' ) = σ j (r' ) − σ 0 (r' ) (2.3.2) bağıntısı ile iletkenlik farkı olarak tanımlanır. g(r,r'), 1-B iletkenlik dağılımını tanımlayan Green fonksiyonudur ve γ 0 = iωµ 0σ 0 (2.3.3) 27 olmak üzere, ( iγ 0 r − r ' ) e g (r , r ) = 4π r − r ' ' 2.3.4) biçiminde tanımlanır. . Burada r ve r’ kaynak ve alıcının konumlarını belirtir. (2.3.1) ifadesi kısaca üç terim olarak, E(r) = E0 (r) + ei (r) + eG(r) (2.3.5) şeklinde yazılabilir. Burada birinci terim bölgesel etkiyi, ikinci terim indüktif etkiyi, üçüncü terim ise galvanik etkiyi tanımlar. Elektrik alan için yapılan bu tanımlama Faraday kanunu kullanılarak benzer biçimde manyetik alan için, B (r ) = B0 (r ) + µ 0 ∇ × ∑ ∫ dV ' g (r , r ' )δσ j (r ' ) E (r ' ) (2.3.6) j Vj olarak bulunabilir. Yukarıdaki bağıntıdan manyetik alanın galvanik teriminin olmadığı kolayca görülebilir. 3-B’lu yapılarda doğru değerlendirme yapılabilmesi için rejyonal MT tepkisinin bilinmesi gerekir. Başka bir deyişle galvanik bozulmaların (galvanic distiortion) ölçülen MT verisinden çıkarılması gerekir. Bozulmaya uğramamış (undistorted) MT tepkisi 3-B rejyonal etkiyi tanımlar. Elektrik alan, indüksiyon alan ve galvanik alan olarak ikiye ayrılabilir. İndüksiyon alan birincil alandır. Bu alan frekansa, yerin özelliklerine ve 28 geometrisine bağlı olarak değişir. İndüksiyon alan etkisinde zamana bağlı olarak değişen manyetik alanın yarattığı akım yalnızca kütlenin içinde yayılır. İndüksiyon etkisi sonucunda ikincil manyetik alan oluştuğu halde ikincil elektrik alan oluşmaz. MT yönteminde asıl bu alan ölçülür (Şekil2.3.2). Galvanik alan bileşeni, iletken sınırlarında yükün artması ile oluşur ve frekanstan bağımsızdır. Şekil 2.3.3’te verilen bir yer altı modeli için birincil elektrik alan homojen (background) yapıyı tanımlarken, ikincil elektrik alan homojen yapı içinde bulunan küçük kütlelerden ileri gelen etkiyi tanımlar. Şekil-2.3.3a kütlenin çevreye göre daha iletken, Şekil 2.3.3b ise kütlenin çevreye göre daha yalıtkan olduğu durumu göstermektedir. İletken kütle olduğu durumda birincil ve Şekil-2.3.2. İndüksiyon etkisi (Wright,1988) 29 ikincil alanların yönleri birbirine zıttır. Toplam elektrik alan, kütle üzerinde azalma gösterir. Kütlenin yalıtkan olduğu durumlarda ise birincil elektrik alan ve ikincil elektrik alan aynı yönde olacağından toplam elektrik alan kütle çevresinde büyüklüğü artacaktır. Yukarıda iletken ve yalıtkan kütle durumlarında anlatıldığı gibi toplam elektrik alanı bulmak için birincil ve ikincil elektrik alanlar vektörel olarak toplanır. Galvanik etkiyi anlamak için iletkenliği σ0 olan sonsuz bir ortam içinde, iletkenliği σ1 olan Şekil-2.3.3a’daki gibi bir kütle düşünülebilir. Elektrik alanın ve akımı sınırlarda sürekli olacağından, akım yoğunluğu, r ∂ρ ∇⋅J = − ∂t (2.3.7) bağıntısı ile yük yoğunluğunun zamana göre değişimi olarak yazılabilir. Frekans ortamında, r ∇ ⋅ J = −iωρ (2.3.8) elde edilir. Burada ω açısal frekans, ρ yük yoğunluğudur. Ohm kanunu (J=σE), (2.3.8) denkleminde yerine konur ise r r ∇ ⋅ (σ E ) = −iωρ (2.3.9) 30 elde edilir. Vektör çarpımlarını yazarak, Şekil-2.3.3. Galvanik etki. J-Akım yoğunluğunu, Ep-birincil alan, Es-ikincil alanı, σ0 sonsuz bir ortam iletkenliğini, σ1 kütle iletkenliğini göstermektedir (Wright,1988). r r v r (∇σ ) ⋅ E + σ (∇ ⋅ E ) = −iωρ (2.3.10) bulunabilir. Maxwell denklemlerinden Coulomb kanunu r r ∇⋅ E = ρ /ε olarak yazılabilir. Burada, ε (2.3.11) elektrik permitivitedir. Bu (2.3.10) denkleminde yerine konursa, 31 r r ρ (∇σ ) ⋅ E + σ ( ) = −iωρ (2.3.12) ε elde edilir. Buradan yük yoğunluğu, r r ρ = −(ε / σ + iεω )(∇σ ) ⋅ E (2.3.13) bulunur. Homojen ortamda veya elektrik alanın iletkenlik değişimine dik olduğu yerlerde (TE modu) yani yüzeyde yük yoktur ve r r (∇σ ) ⋅ E = 0 (2.3.14) yazılabilir. Bu 2-B’lu modellemede TE durumuna benzemektedir. İkincil olarak yeri oluşturaan materyallerin iletkenlikleri ωε’den çok büyüktür (σ >>ωε). Yerin oluşturan malzemelerin dielektrik permitivitesi ε=10-10, MT yönteminde kullanılan frekans aralığı ise 10-3 - 102 Hz arasındadır. Ama öziletkenlik 10-3 S/m’den büyüktür. Bu özelliklerden dolayı jeofizikte (2.3.13) denklemi, r r ρ = −ε (∇σ / σ ) ⋅ E (2.3.15) olarak yazılabilir. Bu eşitlikten görüldüğü gibi yük yoğunluğu elektrik alanla doğru orantılı olarak değişmektedir. Permitivite teriminden dolayı 32 yüzey yük yoğunluğu çok küçüktür, ancak yüzey yük yoğunluğu için elektrik alan önemlidir. Yer içinde iletkenlik değişimi genellikle süreklidir, ancak bu etkiyi şekil2.3.2’deki gibi kütlenin yüzeyinde algılarız. İletkenlik değişimi sadece kütlenin yüzeyinde vardır. Böylece yük yoğunluğu yüzey yük yoğunluğunun yerine geçebilir. İkincil elektrik alan ile yük yoğunluğu ilişkisi Coulomb kanunu ile, Es = 1 4πε =− ∫ s 1 4πε ρs r ∫ s 2 rˆ ds r r (∇σ ) ⋅ E σr 2 (2.3.16) rˆ ds şeklinde bulunur. Burada r, ds kadar yüzey parçası ile ölçü noktası arasındaki uzaklığı, r ise r̂ yönündeki birim vektörü göstermektedir. Galvanik etkinin manyetik alan ile ilişkisi ise akım yoğunluğunun homojen olmayan ortam üzerine hacim integrali ile bulunur. Homojen olmayan kütlenin hacmi küçük olduğundan, ikincil manyetik alan ihmal edilebilir. Galvanik etki, sınır yük etkisi (boundary charge effect) olarak da adlandırılır. Ana elektrik alanlar tarafından yaratılan bu yük fazlalığı iletkenlik sınırları boyunca oluşur. İletkenlik sınırları boyunca yoğunlaşan yükler yeni elektrik alanlar yaratır. Yeni üretilen elektrik alanlar ana elektrik alana, vektörel olarak eklenir. Bu etki galvanik yük veya sınır yük 33 olarak adlandırılır. Bir iletken içindeki elektrik alanı tanımlamada kullanılır. Galvanik yük etkisi MT ölçülere doğru akım tesiri yapar. Doğru akım etkisi, akım kanallaşması (current channeling ) veya (current gathering) olarak akım toplanması adlandırılır. Akım yoğunluğu ile iletkenlik arasındaki ilişkide herhangi bir elektrik alan için, iletkenlik (σ) çok büyük ise yalnızca akım önemli olacaktır. Bozucu kütlenin özdirencine bağlı olarak bozulan elektrik alan, görünür özdirenci artıracak veya azaltacaktır. Bu olay “sınır yük” olarak da adlandırılır. İndüktif ve galvanik yük etkileri birbirinden tamamen farklı ve bağımsızdır. Sınır yük etkisi küçük bir kütle içinde dolaşan akım sistemidir. Bu nedenle, MT ölçülerinde öncelikle elektrik alanın sınırlarda oluşan yük dağılımının etkilerinin düzeltilmesi ile ilgilenilir. 2.3.2. MT sondaj verisinde galvanik etki Amacımız MT de statik kaymayı tanımlamaktadır. Üç boyutlu kütleler için galvanik tepki önceki bölümde tanımlanmıştır. MT yöntemde statik kayma galvanik etkiden dolayı oluşmaktadır. Galvanik etkinin frekans aralığına ve kütle büyüklüğüne bağlı olup olmadığı aşağıda incelenecektir. Elektromanyetik düzlem dalga, yer içine doğru yayılırken homojen bir ortamda e-z / δ gibi soğurulmaktadır. Burada z, derinlik, δ ise etkin derinliktir (skin depth) ve δ = (2 / ωµσ )1 / 2 (2.3.17) 34 olarak tanımlanır. Burada µ manyetik permeabiliteyi gösterir. Etkin derinlik, ölçü derinliği veya araştırma derinliği için kullanılır. Yüksek frekanslı dalgalar soğurulacağından, derinlerdeki kütlelerin yüksek frekanslarda bir etkisi yoktur. MT frekans aralığında yüksek frekanslarda sadece yüzey yakın kütlelerin etkisi vardır. Yüzeylenmiş bir kütle yüksek frekanslar tarafından algılanır ve galvanik etki düşük frekanslar üzerine de yansır. Böylece statik kayma yaratılır. Yüzeylenmemiş bir kütle de yüksek frekanslarda galvanik bir etki yaratmışsa, bu da statik kaymaya neden olur. Görünür özdirenç empedansın genliğine bağlıdır. Bu birincil MT değerleri galvanik bozulmalara izin verir. MT’ de ölçüm elektrik ve manyetik alanın yönüne göre iki polorizasyonda gerçekleştirilir. İki boyutlu bir yer için, ölçüm ekseninin yapıya paralel veya dik olmasına göre görünür özdirenç bağıntısı, xy modunda, Ex ρ xy = ωµ H y 1 2 (2.3.18a) yx modunda, 1 Ey ρ yx = ωµ H x 2 (2.3.18b) biçiminde tanımlanır. Yukarıda bağıntılarda elektrik alanların karesi ile görünür özdirençler arasında bir ilişki olduğu görülmektedir. Elektrik alanda oluşan küçük bir değişim, görünür özdirençte büyük değişikliklere yol açar. Üç boyutlu kütlelerde, elektrik alanın manyetik 35 alana oranında, empedans tensörünün diyagonal olmayan elemanlarının kullanılıyor olması durumu değiştirmez. Yüzeydeki bir kütlede ikincil elektrik alan, bozuşmaya uğramamış bir alandır. Böylece empedans fazı bozuşmaya uğramaz. (2.3.4) eşitliğinden iletkenliğin gerçel olduğu düşünülebilir. Böylece iki elektrik alanın (birincil ve ikincil) gerçel bir fonksiyona bağlı olduğu düşünülürse, faz farkının etkisinin olmadığı görülür. Tabakalı ortamlar için, iletkenlik yalnız z yönünde değiştiğinden, iki modda aynıdır. Eğer ölçülmüş iki görünür özdirenç eğrisinin bükümleri aynı, fakat düşey yönde kayma gösteriyorsa, bu eğriler bir sınırlandırılmış (surficial) kütleden etkilenmişler anlamına gelir. Derindeki üç-boyutlu bir kütlenin statik-kayma etkisini tanımlamak kolay değildir. Her polarizasyon modundaki görünür özdirenç eğrileri birbirine paralel değildir. Ancak kaymamış eğriler (unshifted curves) yer içinde sınırlandırılmış küçük ölçekli bir kütlenin etkisini gösterebilir. 2.3.3. Statik Kaymayı Etkileyen Faktörler 2.3.3.1. İletkenlik etkisi Wannamaker ve diğ.(1984) tabakalı bir ortamda 3-B bir yapının ikincil elektrik ve manyetik alanlarını tanımlamışlardır. Bir sınır yakınında elektrik alanın paralel bileşeni (TE mode) kütle içinde sıkışır ve kütle dışında zayıflar. Süreksizlikten uzaklaşınca 1-B’lu etkiye dönüşür. Elektrik alan bileşeni kütleye dik, TM modunda, elektrik alan bileşeni kütle içinde zayıflar, fakat kütle dışında artar. Sınırdaki elektrik alan genliği, iki kütlenin özdirenç oranına bağlı olarak değişir. 36 Dirençli bir kütle ile iletken kütlenin statik kayması birbirine terstir. Çünkü iletken bir kütlede elektrik alan yükselimi, dağılandan (dışarıda kalandan) daha fazladır. Bu konu ile ilgili açıklamaları şekil-2.3.3’te görülebilir. İletken bir kütle sınır yüküne sahiptir, böylece birincil alana ters ikincil bir elektrik alan oluşturur. Bu ikincil alan sonuçta elektrik alanı ve görünür özdirenci düşürür. Bunun tersi olarak, yani 3-B kütlenin iletkenliği, çevrenin iletkenliğinden büyük ise sınırdaki yük elektrik alanla aynı işaretlidir ve ikincil alan birincil alana eklenir. Böylece görünür özdirenç eğrisi, gerçeğine göre yükselir. Statik kaymanın genliği, Statik-kayma = log10(ρs) - log10(ρt) = 2log10(Et / Es) = 2log10 (Es / Ep)+1 Şekil-2.3.4. Yarı-sonsuz bir ortam içindeki iletken yarım küre. 37 biçiminde tanımlanabilir. Burada, s indisi ikincil alandan oluşan özdirenç ve elektrik alanı, t indisi toplam özdirenç ve elektrik alanı, p indisi ise birincil elektrik alanı göstermektedir. İletkenlik ile statik-kayma arasındaki ilişkiyi anlamak için analitik çözümü bilinen basit bir model ele alınabilir. Şekil-2.3.4’deki gibi yarı-sonsuz homojen bir ortam içinde yüzeylenmiş bir yarım küre düşünülür ise, yarım küre dışındaki herhangi bir noktada ikincil alanın x-bileşeninin birincil alanın x-bileşenine oranı 2 2 2 Es σ1 − σ 0 3 (2x − y + z ) =( )R Ep σ 1 + 2σ 0 r5 olarak tanımlanır (Ward ve Hohman,1988). Burada, (2.3.19) σ1 kütlenin iletkenliğini, σ0 çevrenin iletkenliğini belirtir. x, y ve z ölçü noktasının kütle merkezine göre konumunu gösterir. R yarım kürenin yarıçapı, r ise ölçü noktası ile küre merkezi arasındaki uzaklıktır. Ep ve Es birincil ve ikincil elektrik alanları göstermektedir. y - ekseni boyunca x = 0, y = r ve z = 0 noktasında TE modundaki tepki, Es R 3 σ1 − σ 0 ). =− 3 ( Ep r σ 1 + 2σ 0 (2.3.20) biçimini alır. 38 Kütlenin öziletkenliğini 0.25 S/m ve çevrenin öziletkenliğini 0.01 S/m ve kütle yarıçapı ile ölçü noktası arasındaki oran r =1.1R ise, kaymac = -0.91, kütle iletkenliği 0.0005 S/m ise, kaymar = 0.26 olur. xy-modu için ise, kaymac = 0.72 ve kaymar = -1.03 olur. Burada kaymac kütlenin çevreye göre iletken olduğu durumdaki statik-kaymayı, kaymar ise kütlenin çevreye göre dirençli olduğu durumdaki statik kaymayı göstermektedir. 3-B’lu model çalışmaları sonucunda statik-kayma etkisi anlaşıldığı halde, kaymanın miktarı bilinmemektedir. Model çalışmalarında levha şeklindeki dirençli kütlelerin etkisi çok az olmasına rağmen, dirençli yarım-küre önemli bir kayma etkisi yapmaktadır. Şekil-2.3.4’de yüzeylenmiş çok ince levha modeli, yarım küre modeline benzemektedir. Statik kaymanın genliği model geometrisine bağlı olduğundan, genel tanımlama yapmak çok zordur. Model çalışmalarında, xy ve yx polarizasyonlarında görünür özdirenç eğrilerinin farklı yönlerde farklı değerlerde kaymalara neden olur. Bu nedenle statik-kaymayı tanımak ve ayıklamak oldukça zordur. Yüzeylenmiş kütlenin bulunduğu yatay tabakalı bir ortamda, yüzeylenmiş bir kütlenin etkisi ile elektrik alan ve görünür özdirenç eğrisi bastırılacak ve böylece derinlik ve iletkenlikler daha az bulunacaktır. 1-B değerlendirme sonucunda tabakaların derinlik ve özdirençleri hatalı hesaplanacaktır. 2.3.3.2. Dipol boyu etkisi MT çalışmalarında elektrik alan bileşenlerini nokta alıcı kullanarak ölçmek zordur. Uygulamada elektrik alan değeri, iki elektrottan ölçülen potansiyel farkının elektrot aralığına bölünmesi ile, 39 E = ∂V/∂x veya V = ∫l E ⋅ dl l2 (2.3.21) 1 biçiminde bulunur. Burada V iki elektrod arasında ölçülen potansiyel farkı, x ise iki elektrod arasındaki uzaklıktır. Elektrodlar arasındaki uzaklığının değişmesinden oluşan statik-kayma etkisini araştırmak için hesaplanan aşağıdaki örneklerde, elektrik alan değerleri 10 m aralıklı elektrik alan değerlerinin ortalamasından bulunmuştur. Empedans tensörün hesaplanmasında yukarıda anlatıldığı biçimde bulunan elektrik alan değerleri ve nokta manyetik alan değerleri kullanılmıştır. Elektrot aralığı ile Electromagnetic Array Profiling (EMAP) arasında süzgeçlemeye benzer bir ilişki vardır. Geleneksel MT uygulamalarında dipol uzunluğu bir çalışma boyunca sabit tutulur. EMAP yönteminde olduğu gibi uzaklık ortamı süzgeçleme yapılamaz. Çoğunlukla elektrik dipolleri birbirinden uzaktır. Ama dipol uzunluğu ile yüzeylenmiş kütle boyutu arasında bir ilişki vardır. Şekil-2.3.5’de y-yönünde y = 70 m de xymodunda elektrot aralığının kütle genişliğin yarısından dört katına kadar değiştiği durumlarda görünür özdirenç eğrileri hesaplanmıştır. Elektrot genişlikleri ve elektrotların yerleri şekil-2.3.6’da görülmektedir. Aynı hesaplamalar kütlenin etkisinde (y = 0 m) ve kütlenin dışında da (y = 80 m) yapılsa sonuçların esasında bir değişiklik görülmemektedir. Dipol tamamen kütlenin içinde olduğu zaman yüksek derece de bir statik-kayma görülür. 40 Dipol uzunluğu, kütlenin genişliğinden büyük olduğunda kayma yaklaşık olarak yarıya iner. Dipol boyu, kütlenin genişliğinin dört katına çıktığında kayma önemsiz bir duruma (1/10 dönemden daha küçük) gelir. Bu örnekten anlaşıldığı gibi dipol boyu yüzeylenmiş bozucu kütlenin içinde ise statik-kayma daha çok hissedilmektedir. Bu örnekte ölçü noktası kütlenin tam ortasında düşünülmüştür. Uygulamada dipol merkezinin kütlenin tam ortasında olmayıp, sınıra yakın değişik durumlarda olabilir. Model çalışmalarında verilen örneklerde elektrotlardan birinin tam sınırda olduğu örnekler görülmektedir. Örneklerden anlaşılacağı gibi bu tür sınırlardan kesinlikle uzak durmak gerekir. Eğer litolojik sınırlardan uzaklaşmak mümkün olmaz ise sınır kesildiği için eğrilerde bir bozuşma görülecektir. Bu bozulmanın derecesi bilinmediğinden statik-kayma düzeltmesi yapmak gerekir. 2-B hesaplama yapan algoritmaların çoğunluğunda elektrik alan hesaplamaları iki nokta arasındaki gerilim farkı ölçümü yerine, noktasal ölçüm olarak yapılmaktadır. Uygulamada ise bunun tersi yapılmaktadır. Bu nedenle hesaplanan veri ile ölçülen veri arasında uyumsuzluklar oluşmaktadır. Aşağıdaki şekilde noktasal elektrik alan hesaplaması ile dipol elektrik alan hesaplaması arasında farklılıklar gözlenmektedir (Şekil 2.3.8). 41 Şekil-2.3.5. Yatay tabakalanmış bir ortamda yüzeylenmiş 3-B iletken incetabaka modeli (Pellerin ve Hohman,1990). 42 Şekil 2.3.6. Dipol boyuna göre statik-kaymada oluşan değişimler (Pellerin ve Hohman,1990). 43 Şekil-2.3.7. Yüzeylenmiş iki adet küçük iletken içeren yatay tabakalı 2-B model (Jones,1988). 2.3.3.3 Elektrot dizilimi etkisi MT yöntemde elektrik alan ölçümlerinde iki çeşit elektrod dizilimi kullanılır. Statik- kayma etkisini incelerken, elektrot diziliminin etkisi de dikkate alınmalıdır. Arazi çalışmalarında X ve L diye adlandırılan iki dizilim türü vardır. X diziliminde +x, -x, +y, -y ve ortak topraklama elektrodu olmak üzere 5 elektrot vardır. L elektrodunda ise +x, +y ve ortak topraklama olmak üzere 3 elektrot vardır. Ayrıca model çalışmaları sırasında elektrik alanların hesaplanmasında bir nokta kullanılır. Bu durum nokta dizilimi olarak adlandırılacaktır. Bu çalışmada bir elektrod diziliminin diğer elektrod dizilimine üstünlüğü tartışılmayacaktır. Fakat üç çeşit elektrot diziliminde kayma gösterilmiştir. etkileri Şekil 2.3.10 ve Şekil 2.3.11 Şekillerden de anlaşılacağı gibi aynı yer modeli için 44 elektrodların farklı konumlarında statik-kaymalar farklı olmaktadır. Şekil 2.3.10’da nokta, L ve X dizilimlerinde xy ve yx eğrileri 1-B’lu hesaplamaya çok benzerdir. Şekil 2.3.11’de ise X dizilimi xy ve yx eğrileri 1-B’lu hesaplamaya çok benzerken, L ve nokta dizilimlerindeki xy ve yx eğrileri 1B’lu hesaplamadan çok farklıdır. Şekil 2.3.8. Nokta elektrik alan hesaplaması ile dipol elektrik alan hesaplaması arasındaki fark. Dipol uzunluğu 25 m alınarak profil boyunca yapılan sondajlardan elde edilen (a) 0.015 s için, (b) 1 s için, (c) 100 s için dipol görünür özdirenç ve faz değişimi. Koyu çizgiler dipol kullanılarak ölçümü, soluk 45 çizgiler ise nokta elektrik alan hesaplamalarını göstermektedir (Jones,1988). +y +y -x +x -y +x Toprak Nokta Dizilimi L dizilimi X dizilimi Şekil 2.3.9. Arazi çalışmalarında ve model hesaplamalarında kullanılan elektrik alan ölçü dizilimleri. (2.3.10) ve (2.3.11) şekilleri, ayrıca 2-B’lu ve 3-B’lu model hesaplamalar nokta dizilimi kullanılarak yapıldığı halde, saha çalışmalarında X veya L dizilimi kullanılarak yapılan ölçülerin karşılaştırılmasında (ters çözüm yapılmasında) sorunlarla karşılaşılacağını göstermektedir. 46 Şekil 2.3.10. Şekil 2.3.1’ de görülen modelde yüzeylenmiş iletken kütlenin sağ alt köşesine konumlandırılan X, L ve nokta dizilimleri için xy, yx ve 1-B’lu model eğrileri. 47 Şekil 2.3.11. Şekil 2.3.1’ de görülen modelde yüzeylenmiş iletken kütlenin alt kenarının ortasına konumlandırılan X, L dizilimleri için xy, yx ve 1-B’lu model eğrileri. 48 ve nokta 2.4. Statik Kayma Düzeltmesi 2-B değerlendirme sırasında statik-kayma etkisi kaldırılmalı veya etkisi dikkate alınmalıdır. MT ölçülerinde 3-B’lu değerlendirme yapılırsa, statikkaymanın sonuçlara bir etkisi yoktur. Yalnız 3-B hesaplamalar hafıza yetersizliği, fiyat ve ölçü alımı açısından çok pahalı olduğundan, yüzeye yakın süreksizliklerin ayrıntılı olarak modellenmesinde kullanışlı değildir. MT arazi uygulamalarında 2-B modelleme algoritmaları sıkça kullanılmaktadır. Ancak, eğrilerin statik-kaymadan dolayı nasıl ve nereye kaydığı bilenememektedir. MT eğrilerinin uzaysal (spatial) süzgeçleme teknikleri, Berdichevsky ve diğ.(1980), Sternberg ve diğ.(1985) tarafından başarılı olarak kullanılmıştır. Bu yöntemin başarılı olarak kullanabilmesi için istasyonlar arasında sıklığın çok fazla olması ve istasyon sayısının çok olması gerekir. Diğer bir süzgeçleme tekniği ise Torres Verdin(1985), Bostick(1986) tarafından uygulanan, profil boyunca jeoelektrik doğrultaya dik olarak birbiri ucuna değen elektrik alanlarının ölçüldüğü alçak geçişli süzgeçleme tekniğidir ve Electromagnetic Array Profilling (EMAP) olarak adlandırılır. EMAP yönteminde de MT gibi doğal kaynak kullanılmakta ve aynı frekans aralığında ölçüm yapılmaktadır. Kullanılan kaynak ve frekans aralığı aynı olduğundan 3-B statik etki EMAP yöntemi uygulanarak ta yok edilemez. Fakat arazi çalışmaları ve veri işlem tekniklerinin farklılığı iki yöntemi (MT ve EMAP) birbirinden ayırmaktadır. EMAP, pahalı bir yöntemdir ve MT verilerinin düzeltilmesinin yanısıra, çoğunlukla ayrıntılı çalışmalarda kullanılır. 49 Elektrik alan ölçümlerinin statik kaymaya neden olduğu düşünülünce, yalnız manyetik alan ölçümü kullanan jeofizik yöntemler MT statik kayma etkisini düzeltmekte kullanılabilir. Andrieux ve Wightman(1984), Sternberg ve diğ.(1985) TEM yönteminin statik kayma düzeltme için etkili olduğunu düşünmüşlerdir. Sternberg ve diğ.(1985)'te yaptıkları çalışmada merkezi-halka TEM yönteminin doğrudan MT sondaj eğrisi ile karşılaştırılabileceğini düşünmüşlerdir. Bu yöntemde zaman milisaniye olarak alınıp 200 ile çarpıldıktan sonra frekansa çevrilmekte ve böylece MT ve TEM sondaj eğrileri birbirleri ile karşılaştırılabilmektedir. Bu yöntem kolay ve hızlıdır. Yalnız MT ve TEM görünür özdirençlerini doğrudan karşılaştırmada sorun çıkmaktadır. Pellerin ve Hohmann(1990), statik-kayma düzeltmesi için TEM ölçülerinin 1-B değerlendirilmesinden elde edilen modelin MT yanıtını kullanmışlardır. Ayrıca statik-kayma etkisini yok etmek için empedansın rejyonal ve lokal etkilerini ayırmak amacıyla Schumker(1970), Larsen(1977), Kemmerle(1977), Bahr(1988), Groom veBailey(1989) tarafından çalışmalar yapılmıştır. DeGrootHedlin(1991), statik-kaymayı 2-B’lu değerlendirmede bir bilinmeyen olarak düşünüp, ters çözüm işlemine katmıştır. Statik-kayma etkisi bilindikten sonra bu etkiyi gidermek için birçok araştırmacı tarafından incelemelerde bulunulmuştur. Jiracek(1990), bu çalışmaları derleyerek kapsamlı bir biçimde sunmuştur. Jiracek(1990)’ ın yaptığı sınıflamaya göre statik kayma düzeltmesi çalışmaları aşağıdaki gibi yedi ana başlık altında toplanabilir: 50 1. Ortalama Alma Yöntemi (Invariant parametreleri kullanımı), 2. Eğri kaydırma, 3. İstatistik ortalama alma, 4. Uzaysal ( Uzaklık ortamı ) süzgeçleme, 5. Bozuşmuş tensörü ( Distorsiyon Tensör ) bulma, 6. Sayısal modelleme, 7. Doğru akım özdirenç yöntemler. MT verilerindeki statik-kayma (static-shift) etkisinin giderilmesi, MT verilerinin doğru olarak yorumlanabilmesi için gerekli en önemli etkendir. Bu etki aşağıda anlatılacak yöntemlerle giderilmeye çalışılır. 2.4.1. Ortalama Alma Yöntemi (Invariant Parametreler) Galvanik etkiyi düzeltmek için değişmez empedans tensörü yöntemi vardır. Bu yöntemde değişken olmayan empedans değeri ölçünün döndürülmesinden bağımsızdır. Bu yöntemin en iyi yönü ek bir veri ve ekipman kullanmadan düzeltmenin yapılabilmesidir. Fakat MT profilde parametreleri bilinen (özdirenç, faz) bir tabakanın olması gerekir. Bundan dolayı her sahada uygulanamaz, uygulama alanı sınırlıdır. Ingham ve Hutton(1982), 1-B modelleri aşağıdaki biçimde verilen "Berdichevsky ortalama" empedansından hesaplamışlardır: Z ave = Z xy − Z yx 2 (2.4.1) . 51 Ranganayaki(1984), empedans dizeyinin determinantından yararlanarak, değişmez (invariant) yeni bir empedans tanımlanmıştır, Z det = (Z xx Z yy − Z xy Z yx ) (2.4.2) Aşağıdaki çalışma Ingham(1980)’den alınmıştır. Şekil 2.4.1’de görülen model için Şekil-2.4.2’de görülen elektrod dizilimi ve elektrod yerleri için ortalama empedans ve determinant empedans hesaplanmıştır. Ortalama ve determinant empedans değerleri arasında önemli bir farklılık yoktur. Bundan dolayı sadece determinant empedans kullanılarak yapılan statik kayma tartışılacaktır. Şekil-2.4.1. Tabakalı ortam içine gömülü 3-B’lu iletken kütle ve yüzeydeki iletken kütleden oluşan model (Pellerin ve Hohmann, 1990) 52 Şekil-2.4.2. Şekil 2.4.1.’de görülen modelin statik-kaymaya uğramış, gerçek ve invariant görünür özdirenç ve faz eğrileri ve model üzerinde ölçüm yeri (Pellerin ve Hohmann,1990). Şekil 2.4.2’de modelin statik-kayma içeren ve statik-kayma içermeyen eğrilerle birlikte değişmez (invariant) eğrisi de görülmektedir. Şekilden 53 görülebileceği gibi yönsüz eğrisinde de statik kaymaya neden olan bozucu kütlenin etkisi görülmektedir. Değerlendirme sonucunda statik kayma probleminin bu yöntem ile çözülemediği görülmektedir. Statik-kayma düzeltilmesinden hedeflenen bozucu kütlenin etkisini kaldırmaktır. 1-B değerlendirme de elde edilen verilerde statik kayma etkisi içermektedir. Ayrıca 2-B’luluk ve 3-B’luluk etkileri devam etmektedir. Buradan görüldüğü gibi değişmez (invariant) empedans yöntemi statik kayma etkisi kaldıramamakta ama çok boyutluluktan gelen etkileri yok etmektedir. 2.4.2. Eğri kaydırma MT istasyonun kurulduğu yerde TEM ölçüsüde alınabilir. Ölçülen TEM verileri kullanılarak üç şekilde statik-kayma etkisi giderilmektedir. a - TEM ölçüsünün 1-B ters çözümü yapılır. Bulunan modelin MT düz çözümü elde edilir. Ölçülen MT eğrileri TEM modelinden bulunan kuramsal MT eğrisine çakışacak şekilde kaydırılır (Pelerin ve Hohman, 1990). b – Homojen ortam varsayımı ile MT ve TEM yöntemleri için araştırma derinlikleri eşitlenerek TEM görünür özdirenç eğrisi, frekans ortamında MT görünür özdirenç eğrileri (TE ve TM ) ile birlikte çizilir ve MT eğrileri TEM eğrisi ile çakışacak şekilde kaydırılır. MT yöntemi için etkin derinlik, δMT= 2 ωµσ (2.4.3) 54 eşitliği ile tanımlanır. TEM yöntemi için etkin derinlik ise, δ TEM = 1142 ρ t (2.4.4) biçimde tanımlanır. Bu iki bağıntı eşitlenirse, f(Hz) = 194 t(ms) (2.4.5) elde edilir ve TEM eğrileri de frekans-özdirenç eksenlerinde gösterilebilir (şekil 2.4.4 ve şekil 2.4.5). Aynı eksen takımında gösterilen eğriler birbirleri ile karşılaştırılabilir ve MT eğrileri TEM eğrisine çakışana kadar özdirenç ekseni boyunca kaydırılır. Şekil-2.4.3. Şekil 2.4.1.’de görülen model için statik-katmaya uğramış, gerçek özdirenç eğrileri ve TEM modelinden hesaplanan görünür özdirenç eğrisi (Pellerin ve Hohmann, 1990). 55 Şekil-2.4.4. Değişik tipte MT eğrileri ile TEM eğrilerinin aynı log-log kagıtta gösterimi (Sternberg ve diğ.,1988) 56 Şekil-2.4.5. Değişik türde MT ve TEM modelleri için eğrilerin (2.4.5) bağıntısı kullanılarak karşılaştırılması (Sternberg ve diğ., 1988) 2.4.3. İstatistik ortalama alma Yüzeylemiş küçük kütlelerin ve topoğrafyanın istenmeyen etkilerini kaldırmak amacıyla süzgeçleme teknikleri uygulanabilir. Ortalama alma yöntemi bir tür süzgeçleme tekniği olarak kullanılabilir. MT verilerinde görünür özdirençlerin geometrik ortalaması, faz değerlerinin ise aritmetik ortalamaları alınarak bir adet yuvarlatılmış sondaj eğrisi elde edilir. Bu sondaj eğrisi 1-B’lu değerlendirilerek ortam hakkında bölgesel bir bilgiye ulaşılır. Ortalanmış veri sahada başka bir jeofizik yöntem veya sondaj bilgisi kullanılarak bilinen bir katmana göre kaydırılır. Eğer katman parametreleri hakkında hiçbir bilgi yoksa, bazı istatistik yöntemler kullanılarak parametrelerden bir tanesi bulunmaya çalışılır. 57 Bu tekniğin başarılı olarak uygulanabilmesi için, ortalaması alınacak nokta sayısı ve bir katmana ait bilgilerin bulunması önemlidir. Yöntem, Berdichesky ve diğ.(1980) tarafından Baykal bölgesinde, Kurtz ve diğ.,(1986) tarafından ise Kanada Litosfer projesinde kullanılmıştır. 2.4.4. Uzaysal (uzaklık ortamı) süzgeçleme MT eğrilerinin uzaysal (spatial) süzgeçleme teknikleri Berdichevsky ve diğ.(1980) ve Sternberg ve diğ.(1985) tarafından kullanılmıştır. Bu yöntemi başarılı olarak kullanabilmek için istasyonlar arasında sıklığın çok fazla olması ve istasyon sayısının çok olması gerekir. Diğer bir süzgeçleme tekniği ise Torres Verdin,(1985); Bostick, (1986) tarafından uygulanan, profil boyunca jeoelektrik doğrultuya dik olarak birbiri ucuna değen elektrik alanlarının ölçüldüğü alçak geçişli (low-pass) süzgeçleme (EMAP) tekniğidir. EMAP, MT ile aynı biçimde doğal kaynak kullanılmakta ve aynı frekans aralığı kullanıldığından, 3-B statik etkiyi yok edemez. Fakat arazi uygulamaları ve veri işlem tekniklerinin farklılığı iki tekniği (MT ve EMAP) birbirinden ayırmaktadır. EMAP, pahalı bir yöntemdir ve yalnızca MT verilerinin düzeltilmesinin yanısıra, çoğunlukla ayrıntılı etüdlerde kullanılır. 2.4.5. Bozuşma tensörünü (distorsion tensor) hesaplama Statik-kayma etkisine yerel iletkenlik anomalileri neden olur. Elektrik alanın yönünde veya büyüklüğünde olan 58 değişimler, penetrasyon derinliğinde gerçek dışı değişimlere neden olur. Alt katman iletkenliğinin doğru olarak bulunması ile kaydırılmış empedans tanımlanarak bu sorun çözümlenir. 3-B’luluk probleminde ise empedansları koordinat sistemine göre döndürme gerekli değildir. Empedans tensörünün diyagonal ve diyagonal olmayan elemanlarının önemi yoktur. Böylece 3-boyutlu iletkenlik dağılımı empedans tensörü ile tanımlanır. MT ölçülerinin değerlendirmesinde karşılaşılan bu iki zorluk bazı araştırmacılar tarafından ele alınmıştır. Bir kısmı (Larsen, 1977 ve Kemberle, 1977) frekansa bağlı olmayan distorsiyon dizeyini elde etmişler ve bu skalar matrisi kalan matristen çıkarmışlardır. Diğer bir grub ise distorsiyon matris yerine empedans tensörünün içsel özellikleri ile uğraşmışlardır. Swift(1967), diyagonal elemanların en küçüklenmesi yöntemi ile 2-B yapıların doğrultu eksenlerini ve çarpıklık (skewnes) katsayıları ile iki-boyutluluktan sapmaları bulur. Böylece empedans tensörünün diyagonal elemanları sıfırlanır. Son zamanlarda bazı yazarlar ortogonal elektrik ve manyetik alanla uğraşmaktan vazgeçmişlerdir. Egger(1982), empedans tensörünün özdeğer (eigenstate) analizinden, bu iki alan arasında başka bir açı sunmuşlardır. Bu konuda çalışan(La Torraca ve diğ.,(1986) ve Cevallos,(1986) dört kompleks empedansın bütün özelliklerini birçok matematik yöntem kullanarak açıklamışlardır. Bu çalışmalarda, empedans tensörünün fiziksel özelliklerini gösteren bir parametre açıklamışlardır. Counil ve diğ.(1986) ortogonal olmayan elektrik 59 ve manyetik alan bileşenleri ile uğraşmıştır. Bu çalışmaların tümü Yee ve Paulson(1987) tarafından karşılaştırılmıştır. Bahr(1988), MT empedans tensöründe bölgesel (penetrasyon derinliği ile karşılaştırılabilir yatay boyutluluk) ve yerel (penetrasyon derinliğinde daha küçük yapılar ve DC etkileri) anomalilerin birarada bulunduğu durumu incelemiştir. 2.4.5.1. 1-B yapı içinde küçük 3-B kütle bozulmaları Frekans ortamı MT’de yatay E ve H bileşenleri arasında, E=Z•H ilişkisi vardır. 1-B bir yapıda üstte ince bir tabaka bulunur ise (Şekil 2.4.6 ). Bu durumda empedans tensörü, a11 a12 0 Z n Z = a a 22 − Z n 0 21 (2.4.6) şeklinde tanımlanabilir. Burada Zn, derinlik sondajı bilgilerini içerir. a11, a12, a21 ve a22 frekanstan bağımsız distorsiyon matrisi katsayılarıdır ve penetrasyon derinlikleri birinci tabakanın özelliklerine bağlıdır. Eğer ortam yukarıdaki gibi yani bir-boyutlu ise bozuşma (distorsiyon) dizeyini bulmak için aşağıdaki iki yöntem uygulanır: 1- Üstteki tabakanın özdirenci hakkında başka bir jeoelektrik yöntem kullanılarak bilgi sağlanır. Bu bilgi kullanılarak distorsiyon matrisi bulunur (Kemmerle,1977). 60 2- Manyetik alanın düşey ve yatay bileşenlerinin oranından bozulmamış empedans tensörü hesaplanır. Hesaplanan empedans tensörü yüksek frekanslara uygulanır. Bu yöntem ilk olarak Eckhardt(1963) ve Schmucker(1974) tarafından uygulanmıştır. Rho1 Rho2 Rho3 Rho4 Rho5 Şekil-2.4.6 1-B yapı 2.4.5.2. 2-B yapı içinde küçük 3-B kütlelerin bozucu etkileri 2-B yapı üzerinde birinci tabaka içine gömülü 3-B yapıdan kaynaklanan lokal özdirenç değişiminin olduğu durumda, genlik ve fazların farklı olduğu görülmüştür. Döndürülmüş Z'xy ve Z'yx kullanılarak empedans bağıntısı, 0 Z 'xy Z = A⋅ ' − Z yx 0 (2.4.7) 61 şeklinde tanımlanır. Z'xy ve Z'yx, koordinatların x', y' yeni eksenlerine döndürüldüğünü gösterir. A distorsiyon matrisidir. Yeni koordinat sisteminin doğru olarak hesaplandığı kabul edilse bile Z'xy ve Z'yx’nin genliklerini doğru olarak hesaplamak için ek bilgiye gerek vardır. Jeomanyetik Derinlik Sondajı(GDS) yönteminde ölçülen Hx, Hy ve Hz bileşenleri kullanılarak rejyonal iletkenlik anomalilerini modellemek mümkündür. Birbirine uzak iki istasyonda ölçülen manyetik alanlar arasındaki farklardan yararlanarak Schmucker(1970) tarafından, H x (1) − H x (2) h hD H B (2) H y (1) − H y (2) = d H d D x B y (2) H (1) − H (2) Z H Z D z z (2.4.8) biçiminde bir pertürbasyon matrisi tanımlanır. Transfer fonksiyonları (hH, hD, dH, dD, ZH ve ZD) ile ikinci istasyonun manyetik alanları arasında doğrusal bir ilişki vardır. Eğer iletkenlik değişimi (2.4.7) bağıntısındaki gibi yatay bileşenlerden bir tanesinin yönünde değişiyorsa, hH, ZH dışındaki bütün elemanlar yok olur. hH ve ZH, E-polarizasyon yönünde uzanır. 2.4.5.3. Lokal ve rejyonal anomalilerin birbirinden ayrılması Bu bölümde bölgesel anomalinin yönünün önceden bilinmediği durum açıklanacaktır. a bozuşma matrisi, ZTM ve ZTE bozuşmaya uğramamış Hpolarizasyon ve E-polarizasyon empedans elemanları olmak üzere, empedans tensörü, 62 a 11 Z = a21 a12 a22 0 Z a Z TM = 12 TM 0 Z TE a22 Z TM a11Z TE a21Z TE (2.4.9) olarak tanımlanır. 2.4.6. Sayısal modelleme Statik-kayma etkisi bulunan ölçülerin 1-B değerlendirilmesinde, statikkayma etkisi bulunmayan veriye göre benzer yapı elde edilir. Yalnız katmanların özdirenç ve kalınlıkları yanlış hesaplanır. Çok boyutlu (2-B ve 3-B) yapılarda ise statik-kayma etkisi ölçü noktasından ölçü noktasına farklılıklar gösterir. Bu tür verilerin değerlendirilmesinde modelde yanlış yapılar bulunur veya bazı durumlarda veriye uygun model bulunamaz. Her istasyonda, TE ve TM görünür özdirençlerinde ayrı ayrı statik-kayma parametresi vardır. Ters çözüm yönteminde özdirenç ve statik-kayma parametresi eşzamanlı olarak çözülerek yuvarlatılmış bir model elde edilir. Düzeltilmemiş veri du, düzeltilmiş veri dc ile gösterilirse, du = dc + G s (2.4.10) olarak tanımlanabilir. Burada, s statik-kayma vektörüdür ve artı veya eksi değerler alabilir. G, ise statik-kaymaya uğrayan veridir. S vektörü her istasyonda TE ve TM modları için statik-kayma parametresidir. G matrisinin satırları statik-kaymadan etkilenmeyen fazları veya düşey 63 manyetik alan bileşenini temsil eder ve değeri sıfırdır. Satırlardan bir tanesi görünür özdirence ayrılmıştır ve bu satır 1 ile doludur. Yuvarlatılmış model ile görünür özdirenci çakıştırma yöntemi deGrootHedlin ve Constable(1991) tarafından geliştirilmiştir. Bu yöntem özdirenç ve statik-kaymanın birlikte çakıştırılmasında kullanılabilir. İki boyutlu(2-B) modelleme için yer modeli r ve yer içi dikdörtgen prizmalara bölündüğü düşünülür. F, doğrusal olmayan bir fonksiyon ise yerin düz çözümü, du = F[r] + G s (2.4.11) biçiminde tanımlanabilir. Veri ve model logaritmik ortamda düşünülürse, yukarıdaki bağıntıda s’nin doğrusal olduğu görülür. Görünür özdirenç yerine veri ve s içeren model yanıtı kullanılırsa, problem artık doğrusal olmayacaktır. Yeni duruma göre problem, f[m] = du = F[r] + Gs (2.4.12) biçiminde tanımlanabilir. Buradaki m, yer modeli r’yi ve statik kayma parametresi s’yi içerir ve mT = [r:s]T (2.4.13) olarak tanımlanır. 64 Yer modeli ile statik-kayma verisini birlikte çakıştıracak bir model bulunmaya çalışılır. Modelin bulunmasında Lagrange çarpımı kullanılır ve, U(m) = R(m) + µ-1 χ(m) (2.4.14) biçiminde tanımlanır. Burada sağ taraftaki birinci terim yer modeli, ikinci terim ise µ-1 Lagrange çarpanı ile ağırlıklandırılmış çakışmazlık ölçüsüdür. Çakışmazlık ölçütü, χ = || W du – W f[m] ||2 - χ*2 (2.4.15) olarak tanımlanır. Burada W, diagonalında varyanslar bulunan ve diğer elemanları sıfır olan ağırlık matrisidir. χ*2 ise çakışmazlık için beklenilen değerdir. 2.4.7. Doğru akım özdirenç yöntemleri DC yöntemleri kullanılarak statik-kayma düzeltmesi çalışmaları Romo ve diğ.(1997) ve Spitzer(2001) tarafından uygulanmıştır. Romo ve diğ.(1997), Schlumberger dizilimi kullanarak ölçülen görünür özdirenç eğrilerinin 1-D değerlendirme sonucunda buldukları modelin 1-D MT tepkisini 50 Hz’e kadar hesaplamışlardır. Ölçülen MT eğrisini kuramsal MT eğrisine kaydırarak statik-kayma düzeltmesi yapmışlardır. Romo ve diğ.(1997)’nin kullandığı bu yöntem, Pellerin ve Hohmann(1990)’ın yapay kaynaklı elektromanyetik yöntem kullanarak 65 uyguladıkları statik-kayma düzeltmesinin doğru akım yöntemler kullanılarak yapılan bir uygulaması olarak düşünülebir. Spitzer(2001), MT ve doğru akım yöntemlerindeki gerilim (U) ölçümünü kullanmıştır. Gerilim ölçümü MT verisine kare (ikinin kuvveti) olarak girdiği halde doğru akım ölçülerindeki etkisinin doğrusal olduğu görülür. Bu durumda MT yönteminde statik-kayma etkisi fMT’dc yönteminde fDC olarak gösterilirse, f MT U = undistorted U distorted f DC = 2 (2.4.16) U undistorted U distorted (2.4.17) olarak tanımlanır. İki yöntem arasında statik-kayma etkisi, f DC = f MT olarak tanımlanabilir (2.4.18) (Spitzer,2001). Bozucu gerilim doğru akım yönteminde doğrusal bir ilişki gösterirken, MT yönteminde ikinci dereceden bir ilişki gösterir. Bu özellikten yararlanarak yüzeye yakın kütlelerin bozucu etkisi MT yönteminde doğru akım yöntemlerine göre daha büyüktür denilebilir. 66 3. STATİK – KAYMA DÜZELTMESİ İÇİN DÖNDÜRÜLMÜŞ GEÇİCİ ELEKTROMANYETİK YÖNTEMİ Geçici Elektromanyetik (TEM) yöntemi, statik–kaymanın düzeltmesi amacı için yukarıda anlatıldığı gibi üç şekilde kullanılmaktadır. Birincisi, TEM eğrisinin 1-B değerlendirilmesinden elde edilen modelin MT tepkisi hesaplanması, ikinci ve üçüncüsü ise TEM verisi ile MT verisi arasında ilişki kurulması ile yapılan düzeltmelerdir. Her üç durumda da ortam 1-B’lu olarak düşünülmektedir. Ama gerçekte TEM ve MT verileri 3-B’ludur. TEM yönteminde özdirenç hesaplaması yalnızca manyetik alanın z-bileşeni kullanılarak yapıldığından yerin özelliklerini gösteren bir adet GÖ eğrisi elde edilir. Arazi çalışmaları sırasında manyetik alanın diğer bileşenlerini de ölçmek olanaklıdır. Yani z-bileşeni yanında x ve y bileşenlerini de ölçebiliriz. İlerleyen bölümlerde homojen yer için üç bileşen kullanılarak iki adet görünür özdirenç eğrisi bulanabileceği gösterilecek ve bu iki TEM görünür özdirenç eğrisi kullanılarak statik-kayma düzeltmesi yapılacaktır. 3.1. Homojen Yarı-Sonsuz Ortamda Üzerinde Düşey Manyetik Geçici Elektromanyetik Alan Yarı-durağan (quasi-static) transient elektromanyetik alanın homojen, yarısonsuz ve iletken ortam üzerindeki etkisini bulmak için aşağıdaki Fourier dönüşüm çifti kullanılır; 67 F(t) = 1 ∞ − i ωt ∫ F(ω ) e dω 2π −∞ (3.1) ∞ F(ω ) = ∫ F(t) e iωt dt . (3.2) −∞ Basamak (step) fonksiyonu, 0 H 0 (t) = H0 t < 0 ise t ≥ 0 ise (3.3) için birincil manyetik alanın Fourier spektrumu, H 0 (ω ) = − 1 iω (3.4) şeklindedir. Basamak fonksiyonunun spektrumunda harmonik genlikler frekansa bağlı olarak azalırken, faz sabit kalır. Düşük frekanslı harmonikler basamak fonksiyonunun spektrumunda etkili olduklarından, bu tür alanların elektromanyetik sondaj için yeteri kadar derinliklere enerji gönderebilecekleri düşünülür. (3.4) denkleminde birincil manyetik alan, i ωt H0 ∞ e H 0 (t) = − dω ∫ 2πi −∞ ω (3.5) şeklinde yazılabilir. Bu entegral aralığına (-∞, +∞), ω=0 noktası dahil değildir. Basamak fonksiyonu, (3.4) eşitliği genlik ve fazlarının sonsuz sayıdaki harmonikleri olarak düşünülebilir. Spektrum bilindiğinde süperpozisyon prensibi kullanılarak transient alanı hesaplayabiliriz. (3.1) denklemi kullanılarak, 68 H(t) = H(ω ) −iωt e dω 2π i − ∞ ω 1 E(t) = − ∞ (3.6a) ∫ E(ω ) −iωt e dω 2π i − ∞ ω 1 ∞ (3.6b) ∫ transient alanları hesaplanabilir. Burada H(ω) ve E(ω), frekans ortamı elektromanyetik alanlardır. Önce elektrik alan Eø ve düşey manyetik indüksiyon alanı Bz’yi tanımlayalım. Frekans ortamı için, B z = B (0) b z e − iω t z ve E ø = E (0) e ø e − iω t z biçiminde tanımlanır. Burada bz = 18 k 2r 2 k 2 = iσω + ω 2 εµ olmak üzere, 4 2 2 i 3 3 −ikr 1 − (1 − ikr − 9 k r + 9 k r )e eø = − 2 [3 − (3 − 3ikr − k 2 r 2 )e −ikr ] 2 k r = B (0) z µM , 4π r 3 2 =ρ E (0) ø k 2M 4π r 2 olduğu gösterilebilir. Bu eşitlikleri zaman bölgesinde yazmak için birçok ara işlem yapılır. τ = 2πρt10 7 biçiminde tanımlandığında, τ / r >> 1 69 olmak üzere elektromanyetik alan bileşenleri, yüksek özdirençli ortamlarda veya kaynak ile alıcı aralığının çok kısa olduğu geç zaman için yaklaşık olarak, µ 5/2 σ 3/2 rM Eø ≈ 40π 3/2 t 5/2 B z+ ≈ − B z− ≈ − Br ≈ − µM 4ππ3 (3.7a) 2 3 1 + r 15 µM 30π π t 1 3/2 1 π t 3/2 (σµ ) 3/2 (σµ ) 3/2 (3.7c) µMr (σµ ) 2 2 128π t şeklinde tanımlanır. Burada Bz (3.7b) (3.7d) + ve Bz- akımın açık ve akımın kapalı zamanlarındaki düşey manyetik indüksiyon alan bileşenleridir. Düşey manyetik indüksiyon alan bileşeni geç zamanda erken zamanın tersine yatay manyetik indüksiyon alan bileşenine göre büyüktür (Bz > Br). Bu nedenle, geçici (transient) alanın düşey bileşeninin geç zamanda ölçümünde alıcı – verici arasındaki uzaklıktan ve eğim açısından gelen hatalar frekans ortamı genlik ve faz ölçülerine göre daha küçüktür. Ayrıca elektromanyetik alanın geç zaman ölçümleri özdirenç değişimlerine çok duyarlıdır. Pratik olarak, E ø ≈ σ 3/2 , B z ≈ σ 3/2 , B r ≈ σ 2 olarak tanımlanabilir (Kaufmann ve Keller, 1983). 70 Uygulamada (3.7c) ve (3.7d) bağıntıları ile verilen, indüksiyon manyetik alanın, akım kesildikten sonraki düşey (Bz) ve yatay (Br) bileşenleri kullanılır. Bu iki bileşenin zamana göre türevleri alınırsa, ∂B r µM ( µσ ) 2 = ∂t 64π t 3 (3.8a) ∂B z µM ( µσ ) 3/2 = 5/2 ∂t 20π π t (3.8b) bulunur. (3.7a) ve (3.8b) eşitlikleri karşılaştırılırsa, Eø = r ∂B z 2 ∂t (3.9) olduğu görülür. Ayrıca, (3.7d) eşitliğinden, Hr = − Mr ( µσ ) 2 2 128πt (3.10) olarak tanımlanabilir. Elektrik alanı ve manyetik alanı bilinen bir ortamın empedansı, Z = Z =− Eø Hr (3.11a) r ∂B z ∂t 2 Hr (3.11b) olarak tanımlanır. Geçici elektromanyetik yöntemlerde bir kablo (dipol) veya halka aracılığı ile oluşturulan elektromanyetik alanın Hx, Hy ve Hz manyetik alan bileşenlerinin akım kesildikten sonra zaman içindeki 71 değişimleri ölçülür. Uygulamada çoğunlukla düşey manyetik alanın zamana göre türevi kullanılarak görünür özdirenç hesaplanır. Yukarıda (3.9) ile tanımlanan eşitlik kullanılarak, ölçülen düşey manyetik alanın zamanla değişiminden, elektrik alan hesaplanabilir. Hesaplanan elektrik alan ile yatay manyetik alanlar kullanılarak, Zx = Eø Hx (3.12a) Zy = Eø Hy (3.12b) empedansları tanımlanabilir. (3.12a) ve (3.12b) ile tanımlanan empedans çiftine, (3.7) ve (3.10) bağıntılarında verilen elektrik alan ve yatay manyetik alan yerine konursa homojen yarı-sonsuz ortam için özdirenç, ρ(t) = π t 10.24 µ (Z(t)) 2 (3.13) olarak bulunur. Homojen yarı-sonsuz ortam için manyetik alanın yatay bileşenleri(Hx ve Hy) birbirine eşittir. Bu nedenle her zaman tek bir empedans ve özdirenç bulunur. 72 Ortam homojen ve yarı-sonsuz değilse manyetik alanın yatay bileşenleri birbirinden farklı olacak ve ρ x (t) = ρ y (t) = πt (Z x (t)) 2 10.24 µ πt 10.24 µ (3.14a) (Z y (t)) 2 (3.14b) biçiminde iki değişik özdirenç hesaplanabilir. Aşağıdaki şekillerde (Şekil 3.1, 3.2, 3.3, 3.4, 3.5, 3.6, 3.7) homojen ortam ve tabakalı ortamlar için görünür özdirencin düşey manyetik alanın zamana göre değişimi ve yukarıda önerilen elektrik alan ve manyetik alanların yatay bileşenleri kullanılarak yapılan görünür özdirenç hesaplamaları görülmektedir. Şekillerden anlaşılacağı gibi homojen ve tabakalı ortamlar için manyetik alanın yatay bileşenleri birbirine eşit olacağından, yalnız tek bir görünür özdirenç elde edilmektedir. Yukarıda tanımlanan özdirençlerin homojen, iki tabakalı ve 3-B ortamlar için davranışlarını ve düşey manyetik alandan hesaplanan geleneksel özdirenç tanımları ile farklarını karşılaştıralım. 73 3.1. Homojen Ortam Homojen ve yarı-sonsuz ortam için elektrik alanın ve manyetik alanların bileşenleri analitik yolla hesaplanabilir. Yukarıda tanımlanan (3.7)-(3.9) bağıntıları arasında bu işlemin τ ’nun r ’ye oranının 1’den çok büyük olduğu ( τ / r >> 1 ) ortamlar için nasıl yapılacağı anlatılmıştır. Düşey indüksiyon alanı kullanılarak görünür özdirenç hesaplaması, (3-8b) eşitliğinden, µ 5/2 M ρ = 3/2 5/2 20π t ( ∂ B / ∂ t) z 3/ 2 (3.15) biçiminde tanımlanır. Bu özdirenç tanımı ve (3.14)’te belirtilen yeni özdirenç tanımının homojen ortamın değişik gerçek özdirenç değerleri için durumu Şekil 3.2 ve 3.3’de görülmektedir. Şekillerden de görülebileceği gibi geleneksel dBz/dt ‘yi kullanarak hesaplanan görünür özdirençler ile empedans bağıntısını kullanarak hesaplanan özdirençler arasında homojen ortam için farklılık yoktur. Homojen ortamın özdirencinin zamana göre değişimi sabit kalmaktadır. 74 (a) (b) 75 Şekil 3.1 Değişik özdirençli homojen ortam için Eo ve Hr alanlarının zamana göre değişimi. (a) Manyetik alanın yatay bileşenindeki değişimler, (b) Elektrik alandaki değişimler. (a) (b) 76 Şekil 3.2 Değişik özdirençli homojen ortam için Eo/ Hr (Zr) empedansının ve Rhox görünür özdirençlerin zamana göre değişimi. (a) (Zx) empedansındaki değişimler, (b) Rhox görünür özdirençleri. (a) (b) 77 Şekil 3.3 Değişik özdirençli homojen ortam için dBz/dt empedansının ve Rhoz görünür özdirençlerin zamana göre değişimi. (a) dBz/dt değişimler, (b) Rhoz 78 görünür özdirençleri. 3.2. İki tabakalı Ortam İki tabakalı ortamda birinci ve ikinci tabakanın özdirençleri ρ1 ve ρ2, birinci tabakanın kalınlığı h1 ve s = σ2 / σ1 = ρ1 / ρ2 olmak üzere, manyetik alanın yatay bileşeni, elektrik alan ve indüksiyon alanın zamana göre türevleri sırasıyla, M (µσ1 s) 2 32 (µσ1 ) 5 / 2 h1 s 3 / 2 (1 − s) (µσ1 ) 3 2 (s − 1)s − + (6 − 5s) H r (t ) = − r − h1 2 3 5/ 2 4π 32t 35 4t 16 πt (3.16c) [ ] µM (µσ1 s)3 / 2 (µσ1 ) 2 h1 s(s −1) (µσ1 )5/2 + 2r 2 s 5 / 2 + 4h12 s (1− s)(8s − 9) Eø (t) = − r + 3 5/2 4π 10 π t 8t 112 π t 7/2 (3.16b) 96 ⋅ 20π 7 − (τ 1 / h1 ) 7 r 2 4s 5 / 2 4 s + (1 − s )(8s − 9) 2 h 105 105 1 256 ⋅ 24π 8 + (τ 1 / h1 ) 8 ] 2 π (3.16c) r 2 5s 2 ( s − 1) 5s 2 7 s 1 + ( s − 1) − + − 2 64 24 12 4 h 1 şeklinde tanımlanır(Kaufman ve Keller, 1983). Homojen ortamda olduğu gibi Hx ve Hy alanları birbirine eşittir. Böylece iki tabakalı ortam içinde Zx ve Zy empedansları birbirine eşit olacağından bir tek özdirenç hesaplanabilir. Aşağıda değişik özdirenç ve kalınlık birleşimi için 3.14 ve 3.15 bağıntıları kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrileri görülmektedir. Şekil 3.4 ve Şekil 3.5’te birinci tabakanın kalınlığı ve özdirenci (h1 = 50 m, ρ1 =1000 Ωm, 500 Ωm, 200 Ωm, 100 Ωm, 50 Ωm, 25 Ωm), ikinci tabakanın özdirenci ise ρ2 =10Ωm’dir. Şekil 3.6 ve Şekil 3.7’de birinci tabakanın kalınlığı 50 m ve özdirenci 10 Ωm, ikinci tabakanın özdirenci değişken ve ρ2 =1000 Ωm, 500Ωm, 200Ωm, 100Ωm, 50Ωm, 25Ωm olarak alınmıştır. 78 Şekil 3.4 İki tabakalı ortam için Eo/ Hr (Zx) empedansından elde edilen Rhox görünür özdirençlerin zamana göre değişimi. Şekil 3.5 İki tabakalı ortam için dBz / dt empedansından elde edilen Rhoz görünür özdirençlerin zamana göre değişimi 79 Şekil 3.6 İki tabakalı ortam için Eo / Hr (Zx) empedansından elde edilen Rhox görünür özdirençlerin zamana göre değişimi. Şekil 3.7 İki tabakalı ortam için dBz / dt empedansından elde edilen Rhoz görünür özdirençlerin zamana göre değişimi 80 3.3. Arazi verisi uygulaması Şekil 3-9’da arazide üç bileşeni (Hx, Hy, Hz) ölçülen TEM verisinde düşey manyetik indüksiyon alanın zamana göre türevi kullanılarak geleneksel yoldan ve (3.14a) ve (3.14b) bağıntıları kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç yapma kesitleri görülmektedir. Arazi verisi, merkezi halka kullanılarak elde edilmiştir. Verici halka kare biçimindedir ve halkanın kenar uzunlukları 300m x 300m’dir. Alıcı halka, verici halkanın ortasına yerleştirilmiştir. Alıcı halka aralıkları 300 m’dir. Geleneksel yolla yapılan hesaplamada ortam 1-B’lu gibi görünürken, empedanslar kullanılarak oluşturulan görünür özdirenç yapma kesitlerinde ise iki ve üç boyutluluk görülmektedir. Geleneksel yolla hesaplanan merkezi halka TEM ölçüleri değerlendirilirken çoğunlukla yatay süreksizliklerden etkilenmediği düşünülür. Yatay süreksizliklerden etkilenmeyen ortam 1-B’ludur. 1-B boyutlu ortamda üç eksenli manyetik alan (Hx, Hy, Hz) ölçümleri yapılırsa, x ve y yönündeki alanların birbirlerine eşit olması gerekir. Uygulamada bu durum farklıdır. Şekil 3-9 ve şekil 3-10’da görülen arazi ölçüleri yapma kesitlerinde ne yatay manyetik alanların ( Hx, Hy ) nede görünür özdirençlerin birbirlerine eşit olmadığı görülmektedir. Sonuç olarak merkezi halka TEM ölçümlerin yatay süreksizliklerden az etkilendiği düşüncesi doğru değildir. Bu nedenle 2-B’lu ortamı iki görünür özdirenç ile tanımlamak daha doğrudur. 81 Yatay manyetik alan bileşenleri, yatay süreksizlikten etkilenmektedir. Hangi yatay bileşen (Hx, Hy ) süreksizlikten daha çok etkilenir? Bu soruna yanıt aramak için yatay süreksizlik ile yatay bileşenlerin konumlarının bilinmesi gereklidir. Bu sorunu çözmek için MT yöntemlerinkine benzer biçimde yatay bileşenlerinden birine süreksizliğe paralel, diğerini süreksizliğe dik konuma getirecek biçimde yatay manyetik alan vektörleri döndürülebilir. 82 Şekil –3.9. Arazi verisi kullanılarak elde edilen üç tür görünür özdirenç kesitleri. Üstte düşey manyetik indüksiyon alanı (dBz/dt), ortada Zx (Eo/Hx) ve altta ise Zy (Eo/Hy) kullanılarak görünür özdirenç hesaplanmıştır. (a) (b) (c) Şekil 3.10. Arazi verisinden oluşturulan akıma göre normalleştirilmiş manyetik indüksiyon yapma kesitleri (picoTesla / amper). (a) xbileşeni(Bx), (b) y- bileşeni(By), (c) z- bileşeni(Bz). 3.3.1. Yatay manyetik alan vektörlerinin döndürülmesi 83 Manyetik alan bileşenleri şiddeti, yönü ve uygulama noktası belli olan büyüklüklerdir. Arazi çalışmaları sırasında yatay bileşenlerin yönü gelişi güzel seçilebilir. Yalnız kuzey ile yaptığı açının bilinmesi gerekir. x - y koordinat düzlemindeki iki vektörü φ açısı ile x’- y’ düzlemine döndürüldüğü düşünelim (şekil. 3.11). x-y düzlemindeki H vektörünün bileşenleri, H x = H ⋅ sin θ (3.31a) H y = H ⋅ cosθ (3.31b) dir. x’, y’ düzleminde ise, H x' = H y ⋅ sin φ − H x ⋅ cos φ (3.32a) H y = H ⋅ cosθ (3.31b) dir. x’, y’ düzleminde ise, H x' = H y ⋅ sin φ − H x ⋅ cos φ (3.32a) H y' = H x ⋅ cos φ + H y ⋅ sin φ (3.32b) olur. Bu sistem dizey denlemi olarak, 84 Şekil 3.11 H vektörünün x-y düzleminden x’-y’ düzlemine döndürülmesi. Şekil-3.12. Arazi verisinden oluşturulan döndürme sonrası akıma göre normalleştirilmiş manyetik indüksiyon yapma kesitleri (picoTesla/ amper). (a) x- bileşeni(Bx), (b) y- bileşeni(By), (c) dönme açısı (derece). Üç bileşen ölçülerek yapılan TEM uygulamalarında yatay manyetik alan bileşenlerinin, yatay süreksizlikle ilişkisini araştırmak ve bileşenlerinden birini en büyük, değerini en küçük yapmak amacıyla döndürme uygulanan 85 Şekil 3.10 ve Şekil 3.12’de yatay manyetik alanların döndürülmeden önce ve döndürüldükten sonraki yapma kesitleri ve dönme açıları görülmektedir. Şekil 3.13 ve 3.14’te ise üç bileşen ölçülerek yapılan arazi ölçüsünden hesaplanan görünür özdirenç eğrileri görülmektedir. Şekil 3.13. Arazi verisinden elde edilen görünür özdirenç eğrileri. rsx: (Eo/Hx) kullanılarak hesaplanan, rsy: (Eo/Hy) kullanılarak hesaplanan, rsz: (dBz/dt) 86 kullanılarak hesaplanan, rrx: (Eo/Hxmax) kullanılarak hesaplanan, rry: (Eo/Hymin) kullanılarak hesaplanan. Şekil 3.14. Arazi verisinden elde edilen görünür özdirenç eğrileri. rsx: (Eo/Hx) kullanılarak hesaplanan, rsy: (Eo/Hy) kullanılarak hesaplanan, (Eo/Hxmax) rsz: (dBz/dt) kullanılarak kullanılarak hesaplanan, hesaplanan, rry: kullanılarak hesaplanan. 3.3.2. Yöntemin Statik-kayma düzeltmesine uygulanması 87 rrx: (Eo/Hymin) Statik-kayma düzeltmesi için bölümlerde anlatılmıştı. Bu uygulanan TEM yöntemleri önceki yöntemler bazı durumlarda uygulanamaz sonuçlar vermektedir. 88 Şekil 3.15. Sedimanter bir alanda ölçülen MT ve TEM görünür özdirenç eğrileri. Kırmızı xy, mavi yx yönündeki MT, yeşil ise TEM görünür özdirenç eğrisi. 88 Bu bölümde sunulacak arazi uygulamalarında TEM yöntemi kullanılarak geleneksel statik-kayma düzeltme yöntemleri ile birlikte iki yönlü TEM görünür özdirenç eğrileri kullanılarak yapılan düzeltme de anlatılacaktır. Şekil 3.16. Şekil 3.15 verilen MT ve TEM görünür özdirenç eğrilerini statik-kayma yapıldıktan sonraki durumu. 89 TEM yöntemi kullanılarak yapılan statik-kayma düzeltmelerinde yer altı 1-B’lu düşünülmektedir. Eğer yer altı 1-B’lu veya 1-B’lu ortama yakın ise eğri kaydırma yöntemleri, ister TEM verisinden model hesaplama yöntemi ile isterse TEM verisi zamanlarını MT frekanslarına dönüştürerek olsun başarılı bir biçimde uygulanabilmektedir. Yer altı çok boyutlu ise yukarıda değinilen TEM yöntemlerini kullanarak statik-kayma düzeltmesini yapmakta zorluklarla karşılaşılmaktadır. Şekil 3.15’te sedimanter bir havzada ölçülen TEM ve MT verileri aynı grafik üzerinde görülmektedir. Kolayca görülebileceği gibi TEM ve MT görünür özdirenç eğrileri birbirine paralel gibidir. MT eğrileri, TEM eğrisine doğru kaydırılarak kolayca statik-kayma düzeltmesi yapılabilir (şekil 3.16). Şekil 3.17’de ise jeolojisi karmaşık olan bir alanda ölçülen TEM eğrisi ile MT görünür özdirenç ve faz eğrileri aynı grafikte görülmektedir. Böyle bir durumla karşılaşıldığında gelenekse eğri kaydırma yöntemlerini kullanarak statik-kayma düzeltmesi yapmak zordur. MT görünür özdirenç eğrileri ile TEM görünür özdirenç eğrisi kesişmektedir. Yukarıdaki bölümlerde önerilen iki yönlü TEM görünür özdirenç yöntemini, geleneksel TEM yöntemleri ile statik-kayma düzeltmesi yapamadığımız durumlarda uygulanabilirliğini araştırmak amacıyla şekil 3.18 - şekil 3.21 arasında aynı ölçü noktasına ait x ve y yönündeki manyetik alanlar ( Bx ve By), düşey manyetik alanın zamana göre türevi 90 (dBz/dt) ve düşey manyetik alan kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrileri görülmektedir. Şekil 3.17 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen MT ve TEM görünür özdirenç eğrileri. 91 Şekil 3.18 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen y-yönünde akıma göre normalleştirilmiş manyetik alan (By). Şekil 3.19 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen x-yönünde akıma göre normalleştirilmiş manyetik alan (Bx). 92 Şekil 3.20 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen z-yönündeki manyetik alanın zamana göre türevi (dBz/dt). Şekil 3.21 Jeolojisi karmaşık bir alanda dBz/dt kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrisi. 93 Şekil 3.22 Düşey manyetik(mavi-Rz) ve yatay manyetik alanlar (Rx ve Ry) kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrileri. Şekil 3.22’ de ise geleneksel yolla hesaplanan TEM görünür özdirenç eğrisi ile birlikte bu çalışmada önerilen yatay manyetik alanlarıda kullanarak hesapalan TEM görünür özdirenç görülmektedir. 94 eğrileri aynı grafik üzeinde Şekil 3.23’ te ise jeolojisi karmaşık bir ortamda ölçülen MT görünür özdirenç eğrileri, düşey manyetik alan bileşeni kullanılarak geleneksel yolla hesaplanan ve yatay manyetik alan bileşenleri kullanılarak hesaplanan Şekil 3.23 Jeolojisi karmaşık bir alanda ölçülen MT ve TEM eğrileri. TemRx: x- bileşeni, TemRy: y- bileşeni, TemRz: z- bileşeni kullanılarak hesaplanan TEM, MTxy ve MTyx ise MT görünür özdirenç eğrileri. 95 TEM görünür özdirenç eğrileri topluca görülmektedir. Yatay manyetik alan larıda kullanarak hesaplanan TEM görünür özdirenç eğrileri ile MT görünür özdirenç eğrilerinin birbirlerine uyumlu oldukları ve statik-kayma düzeltmesi için kullanılabilecekleri kolayca görülebilmektedir. 96 4. SONUÇ MT yöntemde statik-kayma düzeltmesi için yapılan çalışmalar önceki bölümlerde özetlenmiştir. TEM statik-kayma düzeltmesi için en çok kullanılan yöntemdir. TEM yöntemi uygulanarak iki türlü düzeltme yapılabilir. Birincisinde TEM ve MT yöntemlerinin homojen ortam için etkin derinlikleri eşitlenerek aynı eksen üzerine çizilir. MT görünür özdirenç eğrileri TEM görünür özdirenç eğrisine çakışacak biçimde kaydırılır. İkinci yöntemde ise TEM görünür özdirenç eğrisinin bir-boyutlu ters çözümü yapılarak katman parametreleri bulunur. Bulunan katman parametreleri kullanılarak bir-boyutlu MT düz çözümü yapılır. MT görünür özdirenç eğrileri kuramsal MT eğrisine çakışıncaya kadar kaydırılır. Bu çalışmada, TEM yönteminde görünür özdirenç hesaplanmasında değişik bir yol kullanılmıştır. Bilindiği gibi TEM uygulamalarında düşey manyetik alanın zamana göre değişimi kullanılarak görünür özdirençler hesaplanır. Düşey manyetik alan yanında yatay bileşenlerde ölçülebilir. Üç bileşeni (düşey ve yatay bileşenler) kullanarak görünür özdirenç hesaplanmıştır. Düşey manyetik indüksiyonun zamana göre türevi ve alıcı-verici arasındaki uzaklık kullanılarak elektrik alanın hesaplanabileceği görülmüştür. Elektrik alan ve yatay manyetik alan bileşenleri kullanılarak iki yönde iki farklı görünür özdirenç hesaplanabileceği görülmüştür. Uygulanan yöntem analitik çözümler kullanılarak homojen ve tabakalı ortama uygulanmış ve iyi sonuçlar alınmıştır. Yöntem, üç-boyutlu model çalışmalarına uygulanmak istenmiştir. Yalnız üç-boyutlu TEM ve MT düz 97 çözüm yapan program sonuçlarını amacımız için kullanmakta zorluklarla karşılaşılmıştır. Bu nedenle üç-boyutlu çalışma örnekleri sunulamamıştır. Bunun yerine arazi çalışmalarından alınan örnekler kullanılarak yöntemin üç-boyutlu yapılar içinde çalışılabilirliği gösterilmiştir. Birbirine dik yatay manyetik alan bileşenleri dik koordinat sisteminde döndürülerek, bileşenlerde biri enbüyüklenirken diğeri enküçüklenebilir. Yatay manyetik alan bileşenlerinin en küçüklenmişi, en büyüklenmişi ve düşey manyetik alan kullanılarak hesaplanan görünür özdirenç eğrileri jeolojik doğrultu ile ilişkilendirilir. Bulunan sonuçlar maddeler biçiminde aşağıdaki gibi sıralanabilir: • TEM yönteminde geleneksel yolla hesaplanan görünür özdirenç eğrisine ek olarak yatay manyetik alan bileşenlerini de kullanarak 2 yeni görünür özdirenç önerilmiştir. • Önerilen yöntemle hesaplanan görünür özdirenç eğrileri ilk tabakanın gerçek direncine karşı daha duyarlıdırlar. • Önerilen doğrultuya görünür özdirenç eğrileri iki yönlü olduğundan jeolojik göre döndürülmeleri olanaklıdır. Bu özelliklerinden yararlanılarak jeolojik doğrultu hakkında bilgi sağlanabilir. • TEM yöntemi kullanılarak yapılan statik kayma düzeltmelerinde karşılaşılan sorunlar, yeni görünür özdirenç tanımları kullanılarak yok ediliebilir. 98 KAYNAKLAR Andrieux, P., and Wightman, W.E., 1984, The so-called static correction in Magnetotelluric measurements: Presented at the 54 th Ann. Mtg. and Expos., Soc. Explor.Geophys. Bahr, K., 1988, Interpretation of the magnetotelluric impedance tensor: regional induction and local telluric distorsion. J. Geophys.,62, 119-127 Bostic, F. X., 1986 Electromagnetic Array Profiling ( EMAP) : 56th Ann. Mtg And Expos., Soc.Explor. Geophys., Expanded Abstracts, 6061 Berdichevsky, M. N., Vanyan, L.L., Kuznetsov, V.A., Levadny, V.T.,Mandelbaum, M.M., Nechaeva, G. P., Okulessky, B. A., Shilosky, P. P., Shpak, I. P., 1980 , Geoelectrical model of the Baikal region: Phys. Earth Plan.Int., 22, 1-11. Berdichevsky, M. N . and Dmitriev, V. I., 1976 Distortion of magnetic and Electric fields by near-surface lateral inhomogeneities: Acta Grodaet. Geophys. Et Mantanist. Acad.Sci. Hung.,11, 447-221. Berdichevsky, M. N . and Dmitriev, V. I., Pozdnjakova, E. E.,1988 On two dimensional interpretation of magnetotelluric soundings. Geophys. J. Int. 133, 585-606. Cagniard, L., 1953, Basic theory of the magnetotelluric method of Geophysical prospecting: Geophysics, 18, 605-635. Cevallos, C., 1986, Magnetotelluric interpretation – another approach. PhD. Thesis, Macquarie University, Sidney. Chave, A.D ve Smith, J.T.,1994. On the electric and magnetic galvanic distortion tensor decomposition. J.Geophys. Res.,99, 4669-4682. 99 Counil, J.L., Le Mouel, J.L., Menvielle, M., 1986, Associate and conjugate concept in magnetotellurics. Ann. Geophysics. 4, B2, 115-130. deGroot-Hedlin, C. D. and Constable, S. C.,1990, Occam’s inversion to generate smooth two dimensional model from magnetotelluric data: Geophysics, 55, 1613-1624. deGroot-Hedlin, C. D.,1991, Removal of the static shift in two dimensions by regularized inversion: Geophysics, 56, 2102-2106. Eaton, P.A. and Hohmanm, G.W., 1988 , Approximate inversion for transient Electromagnetic soundings: Phys. Earth Plan. Int. Eckhardt, D., Larner, K., Madden, T., 1963, Long-period magnetic fluctutations and mantle electrical conductivity estimates. J. Geophys. Res. V.68. Eggers, D. E., 1981, An eigenstate formulation of the magnetotelluric impedance tensor: Geophysics, 47,1204-1214. Groom, R. and Bailey, R., 1989, Decomposition of the magnetotelluric impedance tensor in the presence od the local three-dimensional galvanic distorsion, J.Geophys. Res., 94, 1913-1925. Hohman, G.W., 1975, Three-dimensional induced polarisation and electromagnetic modelling. Geophysics, 40, 309-324. Ingham, M. R.,1988 The use of invariant impedans in magnetotelluric interpretation: Geophys. J., 92, 165-169. Ingham, M.R. and Hutton,V. R. S., 1982, Crustal and upper mantle electrical conductivity structure of southern Scotland: Geophys. J. Roy. Astr. Soc., 68, 579-594. Jiracek, G.,1990. Near-surface and topographic distortions electromagnetic induction, Survey in Geophysics, 11,163-203. 100 in Jones, A. G., 1988. Static-shift of magnetotelluric data and removal in a Sedimantary basin environment: Geophysics,53, 967-978. Kaufman, A.A., and Keller, G.V., 1981. Frequency and Transient Soundings, Elsevier Kemmerle, K., 1977, Magnetotellurik am Alpen-Nordrand mit Diskussion der lokalen und Darstellung einer Einzeleffekt-Auswertung. Diss. Fachb. Geowissenchaften, München Kurtz, R.D., Craven, J. A., Niblett, E.R. and Steven, R,A., 1993. The conductivity of the crust and mantle beneath the Kapuskasing Uplift: Electrical anisotropy in the upper mantle, Geophys. J. Int..,113, 483-498. Larsen, J. C., 1986, Removal of local surface conductivity effects from low frequency mantle response curves, in Vozoff, K., Ed., Magnetotelluric methods: Soc. of Expl. Geophys., 706-708. (Reprinted from Acta Geodaet., Geophys. et Montanist. Acad. Sci. Hung., 12, 183-186 (1977)) La Tarraco, G. A., Madden, T. R. and Korringa, J.,1986. An analysis of the magnetotelluric impedance for three-dimensional conductivity structures: Geophysics, 51, 1819-1829. Macnae, J., Lay, L., Lara, W., 1998. Measurement of static shift in MT and CSAMT surveys. Eploration Geophysics, 24, 494-498. Madden, T. And Nelson, P., 1964, A defense of Cagniard’s magnetotelluric Method: ONR Report, MIT Geophysics Lab. Newman, G. A., Hohmann, G. W. And Anderson,W. L., 1986, Transient Electromagnetic response of a three-dimensional body in layered earths: Geophysics, 51, 1608 – 1627. 101 Park , S. K., 1985 Distortion of magnetotelluric sounding curves by threedimensional structures: Geophysics, 50, 786 – 797. Park, S. K., Orange, A.S. and Madden, T. R.,1983, Effets of threedimensional structure on magnetotelluric sounding curves: Geophysics, 48, 1402 – 1405 Pellerin, L . and Hohmann, G. W.,1990, Transient Electromagnetic İnversion: a remedy for magnetotelluric static-shift, Geophysics, 55, 1242-1250. Poll, H.E., Weaver, J. T. and Jones, A.G., Calculations of voltage Differences for magnetotelluric modelling of a region with nearsurface İnhomogeneities: Phys. Eart Planet. Inter.,. Ranganayaki, R. P., 1984, An interpretativite analysis of magnetotelluric data:Geophysics, 49, 1730-1748. Reddig, R. P. and Jiracek, G.R., 1984, Topographic modeling and correction in magnetotelluric: 54 th Ann. Mtg. and Expos., Soc. Explor.Geophys., Expanded Abstracts, 44-47. Schmucker, U., 1970, Anomalies of geomagnetic variations in the southwestren United States, Scripss Institution of Oceanography Bulletin 13, Univ. Of California Press, 165pp. Schmucker, U., 1971, Interpretation of induction anomalies above nonuniform surface layers: Geophysics, 36, 156-165. Spies, B. R. and Eggers, D. E., 1986 The use and misuse of apparent Resistivity in electromagnetic methods: Geophysics, 51, 14621471. Spies, B. R., 1989, Depth of investigation in electromagnetic sounding methods : Geophysics, 54, 872-888. 102 Spitzer, K., 2001, Magnetotelluric static shift and direct current resistivity: Geophys. J. Int., 144, 289-299. Sternberg, B. K. Washburne, J. C. and Anderson, R. G., 1985 Investigation of MT statics shift correction methods: 55 th Ann.Mtg. and Expos. Soc. Explor. Geophys., Expanded Abstraccts, 264-267. Sternberg, B. K. Washburne, J. C. and Pellerin, L., 1988, Correction for the Static shift in magnetotellurics using transient electomagnetic soundings:Geophysics, 53, 1459-1468. Swift, C. M., 1967, A magnetotelluric investigation of an electrical conductivity anomaly in the southwestern United States. Ph.D. thesis, Massachusetts Institute of Technology,Cambridge, MA Tichonov,A. N., 1950, On determining electrical charecteristics of the deep layers of the earth’s crust: Doklady, 73, 295-297. Ting, S. C. and Hohmann, G. W., 1981 Integral equation modeling of three – dimensional magnetotellüric response: Geophysics, 46, 182197 Torres Verdin, C., 1985 Implicastions of the Born approximation for the MT problem in three-dimensional environments: M.S. Thesis, Univ. of Texas, Austin. Utada, H. ve Munekane, M.,2000. On galvanic distorsion of regional threedeimensional magnetotelluric impedances. Geophys. J.Int.,400,385-398 Vozoff, K., 1972, The magnetotelluric method in the expolaration of sedimantary basins: Geophysics, 37, 98-141. Wannamaker, P. E., 1983 Resistivity structure of the northern Basin and Range, in The role of heat in development of energy and mineral 103 resources in the Northern Basin and Range Province: G. P. Eaton, Ed., Geoth. Res.Coun., Spec., 13, 345-362. Wannamaker, P. E.,Hohmann, G. W. and San Filipo, W. A., 1984a, Electromagnetic modeling of the three – dimensional bodies in layered earths using integral equations: Geophysics, 49, 60-74. Wannamaker, P. E.,Hohmann, G. W. and Ward, S. H., 1984b, Magnetotelluric responses of the three – dimensional bodies in layered earths: Geophysics, 49, 1517-1533. Wannamaker, P. E.,Stodt, J.A. and Rijo, L.,1985, Finite-element program for solution of magnetotelluric responses of the two-dimensional earth resistivity structures: Univ. of Utah Res. Inst., Earth Sci. Lab., D.O.E. contract DE- AC03-84SF12196. Ward, S. H. And Hohmann, G. W., 1988, Electromagnetic theory for geophysical application: in EM Methods in Applied Geophysics,Vol. 1, M. N. Nabighain,Ed,Soc.of Explor.Geophys., 131-312. Yee, E. and Paulson, K., V., 1987, The canonical decomposition and its relationship to other forms of magnetotelluric impedance tensor analysis. J. Geophys., 61, 173-189. Zhang, P.,Roberts, R.G. and Pedersen, L.B., 1986, Magnetotelluric strike rules:Geophysics, 52,267-278. 104 ÖZGEÇMİŞ 1956 yılında Sivas’ta doğdu. İlk, orta ve lise öğrenimini Sivas’ta tamamladıktan sonra 1976 yılında başladığı İTÜ Maden fakültesi Jeofizik Mühendisliği bölümünden 1981 yılında jeofizik mühendisi olarak mezun oldu. 1992 yılında Ankara Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Jeofizik Mühendisliği Anabilim Dalın’da Yüksek Lisans çalışmasını tamamladı. 1981 yılında MTA Genel Müdürlüğü Jeofizik Etüdleri Dairesinde göreve başladı. MTA‘daki çalışma yıllarında yurdun çeşitli bölgelerinde maden, petrol, doğal gaz ve jeotermal aramalarında çalıştı. 1995 yılından buyana ‘MT yöntemle Türkiye Yerkabuğu Araştırılması Projesi’ne başkanlık yapmaktadır. MTA’daki çalışmaları ile ilgili raporları ve uluslar arası dergilerde yayınlanmış makaleleri vardır. Halen MTA Genel Müdürlüğü Jeofizik Etüdleri Dairesinde çalışmaktadır. Evli ve iki çocuk babasıdır.
Benzer belgeler
Araştırma derinliği Yüzeyden verilen akımın nüfüz derinliği tamamen
görünür özdirenç hesaplanır. Herhangi bir görünür özdirenç tanımının așağıdaki ölçütleri
gerçeklemesi istenir (Bașokur, 1994).
(a) Görünür özdirenç tek düze bir ortamda, ortamın özdirencine eșit ol...